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惠瑞捷推出Inovys半導體晶片除錯解決方案 (2008.06.25)
有鑑於市場對更高效率之除錯方法的需求不斷增加，半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 特別推出Inovys半導體除錯解決方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系統單晶片 (SoC) 元件的量產時間 |
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Aeroflex針對發表4520獨立飛針測試系統 (2008.06.25)
Aeroflex發表4520獨立飛針測試系統，其為一項能符合多樣化電路板(PCB)測試需求之快速、簡易而彈性的解決方案。4520專為於獨立平台上進行高速、高精準度之無夾具測試而設計，並能以更低的進入成本提供使用者廣受歡迎的4550線上飛針測試系統之所有優點 |
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2008安捷倫電子量測論壇開幕記者會 (2008.06.24)
2008安捷倫電子量測論壇將於2008年7月8,10日盛大展開，這次活動將分兩大主題『Moving into a New Era of Wireless（邁入無線新紀元）』與『The Way Ahead for Digital Design Measurement" （數位設計量測的前景）』 |
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Aeroflex宣佈C.S 004 4-A測試套件提前問市 (2008.06.23)
由於C.S0044-A測試套件提前問市，Aeroflex在CDG階段II互通性及CDG階段I訊號符合性測試之支援更趨完整。C.S0044-A為C.S0044-0標準的修訂版，著重於EV-DO Rel 0/Rev A網路操作，包括基本的EV-DO功能性模擬測試，如HRPD及REV A連接設定與系統重選等測試，並支援Multipersonality、Hybrid及EV-DO Rev A等功能測試 |
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A+工具機技術國際研討會 (2008.06.23)
為推動國內工具機邁向國際一流水準，工研院機械所將舉辦「A+工具機技術國際研討會」，邀請多位德國工具機專家與國內業者分享豐富寶貴的先進研發經驗。
此次研討會邀請到來自德國知名專業工程研發中心Roschiwal+Partner(簡稱R+P)，具有三十多年工具機研發經驗的總經理Mr. Konrad Popp來台，介紹德國工具機設計與技術發展 |
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NI發表USB匯流排供電多功能DAQ介面卡 (2008.06.23)
NI發表2款新的USB匯流排供電M系列資料擷取(DAQ)介面卡，可提供更高的取樣率與更多數位I/O功能。NI USB-6212與USB-6216可搭配68-pin SCSI多端點接頭、螺絲固定端點，或50-pin IDC的連結功能，提供多種連結功能選項 |
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吉時利儀器WiMAX產品發表會 (2008.06.20)
隨著射頻(RF)技術及無線通訊產業的快速發展，設計工程師對先進測量儀器的需求也彷彿永無止盡。殘酷的現實社會中， Keithley只能一次又一次開發新型技術，才能協助工程師在快速變遷的環境中確保產品品質，也才能在眾多競爭廠商中脫穎而出 |
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安捷倫發表速度達10倍的3D平面電磁模擬技術 (2008.06.20)
安捷倫宣佈旗下3D平面電磁（EM）模擬器的速度已提升10倍，其為ADS2008EDA軟體平台Update 1版的一部分。此速度的提升可協助RFIC、RF模組及高速Gigabit串列鏈路設計師利用EM模擬來執行更快、更準確的設計與信號完整性驗證 |
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FSI的ViPR製程為超高劑量離子植入關鍵技術 (2008.06.19)
FSI International宣佈，具備ViPR技術的FSI ZETA Spray Cleaning System噴霧式清洗系統已獲國際論文驗證，是超高劑量電漿輔助摻雜（PLAD）離子植入整合時的關鍵步驟。此一論文是於今年6月8至13日在美國加州蒙特利舉行的第十七屆國際離子佈植技術學術研討會期間，由Hynix、Varian、Nanometrics與FSI四大廠商所共同發表 |
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耕興實驗室採用R&S設備通過CTIA認可 (2008.06.19)
CTIA和Wi-Fi聯盟最近認證耕興股份有限公司的內湖實驗室為CATL，可使用的R&S TS8991測試系統進行符合無線設備OTA性能測試的測試規劃和Wi-Fi無線裝置的射頻性能評估，擴充在2G/3G行動電話及Wi-Fi行動通訊產品的OTA測試業務 |
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Tektronix推出新款掌上型即時頻譜分析儀 (2008.06.19)
全球測試、量測及監測儀器廠商Tektronix發表新款SA2600即時頻譜分析儀，此機型採用DPX波形影像處理器技術，提供即時RF頻譜檢視。於2月間推出的H600 RF Haw掌上型儀器，現在也可使用DPX |
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NI TestStand 4.1以多核心技術加速平行測試效能 (2008.06.19)
NI發表最新的NI TestStand 4.1測試管理軟體，可透過多核心處理器開發更快的測試系統。以目前的趨勢看來，幾乎所有的製造商皆已轉移至多核心處理器以提高效能，NI TestStand 4.1不但可於這些新處理器中執行，並提供更高的測試輸出率與更強大的系統 |
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2008安捷倫電子量測論壇-新竹場 (2008.06.17)
安捷倫科技致力於量測技術發展，在客戶導向的市場趨勢中，持續提供支持台灣高科技產業的競爭力提升。連續八年，舉辦十次安捷倫電子展，與顧客分享最具市場趨勢的全系列解決方案 |
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2008安捷倫電子量測論壇-台北場 (2008.06.17)
安捷倫科技致力於量測技術發展，在客戶導向的市場趨勢中，持續提供支持台灣高科技產業的競爭力提升。連續八年，舉辦十次安捷倫電子展，與顧客分享最具市場趨勢的全系列解決方案 |
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提供多重模組化軟體定義PXI儀控架構掌握測試量測發展趨勢 (2008.06.13)
PXI是PXI系統聯盟所主導的開放式規格，是針對自動化測試、量測、與控制作業定義PC架構的開放性模組化儀控平台。目前PXI系統聯盟成員已經有70多個，並已提出超過1500個模組化設計產品，可供廠商及工程師因應量測、訊號產生、RF、電源和切換模組進行客製化選擇 |
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專訪：美商國家儀器台灣分公司總經理孫基康 (2008.06.13)
PXI是PXI系統聯盟所主導的開放式規格，是針對自動化測試、量測、與控制作業定義PC架構的開放性模組化儀控平台。目前PXI系統聯盟成員已經有70多個，並已提出超過1500個模組化設計產品，可供廠商及工程師因應量測、訊號產生、RF、電源和切換模組進行客製化選擇 |
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Qcept提供晶圓快速線上非光學可視性缺陷偵測 (2008.06.13)
Qcept的ChemetriQ 3000提供整片晶圓的快速線上非光學可視性缺陷(NVDs)偵測，包括了有機、無機、金屬污染、製程導致的電荷、水漬或其他的非光學可視性缺陷。NVDs無法以光學檢測系統探測，在尖端晶圓廠中，佔了所有缺陷的30% |
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NI發表高效能Compact FieldPoint控制器 (2008.06.12)
NI近日發表3款新的Compact FieldPoint控制器，可加強效能、達到更高的處理速度，並大幅提升乙太網路的傳輸率。NI cFP-2220、cFP-2210，與cFP-2200控制器搭載400 MHz PowerPC處理器與Wind River VxWorks即時作業系統(RTOS)，可達更高的處理功能與更快的資料分析 |
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安捷倫科技宣布倂購威華電子公司資產 (2008.06.12)
安捷倫科技11日宣布將全面倂購威華電子公司資產，威華電子為台灣基礎量測儀器供應商，原屬於燿華電子。相關合約的財務細節並未公佈。
這項倂購內容包括威華電子的研發、行銷、智慧財產與大部分基礎量測儀器產品線 |
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太克首創UWB WiMedia 1.2規格詳細測試說明書 (2008.06.12)
Tektronix宣佈創建首部適用於新超寬頻(UWB)WiMedia PHY測試規格1.2版的實作方法(MOI)，同時推出新版的DSA/DPO70000系列示波器UWB分析軟體，可提供額外的UWB WiMedia 1.2量測。新的WiMedia PHY測試規格1.2版加入了更多接收器測試，使Tektronix AWG7102任意波形產生器和RFXpress訊號產生軟體，成為使用v1.0和v1.2及正在規劃v1.5之工程師的最佳選擇 |
