帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix推出新款掌上型即時頻譜分析儀
 

【CTIMES/SmartAuto 陳盈佑報導】   2008年06月19日 星期四

瀏覽人次:【6304】

全球測試、量測及監測儀器廠商Tektronix發表新款SA2600即時頻譜分析儀,此機型採用DPX波形影像處理器技術,提供即時RF頻譜檢視。於2月間推出的H600 RF Haw掌上型儀器,現在也可使用DPX。Tektronix在增加這些項目後,提供的是具備DPX,可供場外和設計工作台使用的齊全即時頻譜分析儀產品組合。

Tektronix的新SA2600和H600掌上型分析儀,具備DPX功能,從場外到工作台使用的齊全產品組合。(來源:廠商)
Tektronix的新SA2600和H600掌上型分析儀,具備DPX功能,從場外到工作台使用的齊全產品組合。(來源:廠商)

Tektronix無線場測事業部總經理Bob Hiebert表示:「Tektronix新即時頻譜分析儀的設計,是以攜帶式掌上型平台提供工作台的性能,尤其是解決WiFi到WiMAX,以至於UWB和UMTS等數位RF技術引起的問題。新的SA2600和H600掌上型頻譜分析儀,將DPX的應用擴大至許多的場測無線技術。這些儀器可在各專有領域,協助客戶從各種室內外環境中找出干擾和無線技術的對應圖。」

數位RF的劇增,使技術環境從設計台移至場外,變得極為複雜。這樣的環境需要新一代的測試和量測儀器。DPX波形影像處理提供獨特的即時RF譜頻檢視,展現前所未有的眾多應用RF訊號探索功能,包括無線電通訊和頻譜管理。DPX會轉換大量的即時資料,產生即時RF頻譜畫面,顯示以往無法察覺的RF訊號和訊號異常。

SA2600具有10kHz-6.2GHz頻率範圍、20 MHz即時頻寬和-153dBm顯示平均雜訊位準(Displayed Average Noise Level,DANL),設計目標是以電池供電的掌上型場測儀器,提供桌上型頻譜分析儀的性能。SA2600和H600的頻譜處理速率,比其他廠商的任何掃瞄頻譜分析儀快100倍以上,能夠百分之百攔截事件持續時間低到500微秒(SA2600)和125微秒(H600)的暫態訊號。

SA2600和H600是針對場測量測設計。這些新機型結合了高性能頻譜分析儀和直覺操作的使用者控制功能集,能夠快速且簡單地分類並找出類比和數位RF傳輸訊號的位置。使用者介面專門針對提高實地生產力而設計,包括方便瀏覽的觸控螢幕。其他的解決方案可能需要離線GPS和對應軟體,而SA2600/H600則包含整合式GPS和對應工具,能夠更有效率地找出干擾來源的位置。

SA2600/H600採用的DPX波形影像處理器技術,每秒可分別處理>2,500或>10,000次頻譜量測,因此能顯示即時頻譜。所顯示的資訊遠多於未採用DPX的其他任何傳統頻譜分析儀,因此得以減少掃瞄頻譜和向量訊號分析儀先天性的分析遺漏處。DPX為了達到每秒幾千次的頻譜量測,使用專用的即時硬體處理輸入訊號。

除了即時RF之外,波形影像處理器還提供亮度分明的殘留顯示,可將異常訊號保留至肉眼能察覺的時間,以顯示動態訊號發生的歷程和隨時間變動的訊號立即回饋。這可讓工程師很快地在螢幕上看到暫態訊號,以及平常可能因為遭到其他訊號遮蔽而看不到、或必須花時間離線分析後才能察覺的訊號。DPX波形造影可快速擷取捉摸不定的異常和暫態事件以提高生產力,加強準確度和深入分析,以及加快設計偵錯。

Tektronix提供從訊號產生到擷取的數位RF測試工具。除了即時頻譜分析儀之外,任意波形產生器可產生理想、失真或「現實世界」的訊號。邏輯分析儀能夠擷取和分析數位I/Q資訊,更快速地在數位RF設計的數位基頻區段內偵錯捉摸不定的問題。數位示波器可以量測精準的時序關係,包括訊號完整性分析。Tektronix藉由這些儀器和支援的軟體,提供客戶測試高標準數位RF應用所需的工具。

關鍵字: 頻譜分析儀  RF  Tektronix(太克Bob Hiebert  儀器設備 
相關產品
安立知推出全新微波頻譜監測模組MS27200A
Tektronix全新遠端程序呼叫式解決方案從測試儀器迅速傳輸資料
太克4系列B混合訊號示波器 提供更快分析和資料傳輸速度
Tektronix推出增強型KickStart Battery Simulator應用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4邊限測試儀 簡化並加速PCIe測試
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA08QQN2STACUKU
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw