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是德科技推出小型BGA內插式探棒解決方案 (2015.09.01)
是德科技(Keysight)日前推出BGA(球柵陣列)內插式探棒解決方案,讓工程師能夠使用邏輯分析儀測試DDR4 x16 DRAM(動態隨機存取記憶體)設計。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA內插式探棒解決方案,工程師可以快速準確地擷取位址和指令信號,以及資料信號的子集,以便對資料傳輸速率高達2,400 Mb/s的設計進行除錯並執行效能驗證量測
是德科技推出PCIe Gen3協定分析測試解決方案 (2014.11.26)
是德科技(Keysight)日前推出可加速PCIe Gen3系統開發的U4301B PCIe協定分析儀。U4301B充分支援從2.5 GT/s(Gen1)到8 GT/s(Gen3)的PCIe速度,以及x1至x16的鏈路寬度。該分析儀並標配分析工具,可用於驗證PCIe LTSSM(鏈路訓練和狀態機)程序、NVM(永久性記憶體)Express,及AHCI(進階主機控制器介面)傳輸協定運作狀況
是德科技於MemCon會議中展示全方位DDR4/LPDDR4測試方案 (2014.11.20)
工程師可對所有大於3.1 Gb/s之DDR4 DIMM位址、指令和資料訊號同步進行狀態擷取 是德科技(Keysight)日前在美國加州舉辦的MemCon會議中,展示全方位的模擬、除錯、驗證和測試解決方案,以支援最快速的記憶體設計
Tektronix推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀 (2007.09.19)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix,宣佈推出全新TLA7S16與TLA7S08串列分析儀,可供進行PCI Express(PCIe)1.0與2.0設計的測試與驗證。全新的Tektronix串列分析儀產品,獨家提供了詳細的PCIe 2.0通訊協定資訊,以及跨匯流排的分析


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