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CTIMES / 串列測試
科技
典故		 第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期，貝爾實驗室開始一項研究計畫，目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日，由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管，優點是體積更小、更可靠、且成本低廉，不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業，同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
Tektronix發行第一套實體層測試程序 (2008.11.06)
測試、量測及監測儀器廠商Tektronix宣佈發行Serial ATA 3.0版標準實體層測試的第一套測試程序。Tektronix針對SATA實體層設計和偵錯提供完善的高速串列資料測試組合。 Serial ATA儲存介面的第三代規格最大傳輸速度將從3Gb/s倍增至6Gb/s，準備邁向更高性能的儲存解決方案，包括新的固態磁碟機和企業商業儲存需求

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