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安捷倫內電路測試解決方案獲二項技術大奬 (2010.05.20)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5內電路測試（ICT）解決方案，在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性，對改善現今成熟的SMT製造環境中的產品品質所做的貢獻 |
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安捷倫推出整合邊界掃描和VTEP技術 (2008.03.11)
安捷倫科技（Agilent）宣佈將為內電路測試（ICT）用戶提供一個創新的方法，讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件（PCBA），而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程，時可省下夾具的成本及減少測試資源 |
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