CTIMES - 內電路測試

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第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期，貝爾實驗室開始一項研究計畫，目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日，由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管，優點是體積更小、更可靠、且成本低廉，不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業，同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。

	安捷倫內電路測試解決方案獲二項技術大奬 (2010.05.20) 安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5內電路測試（ICT）解決方案，在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性，對改善現今成熟的SMT製造環境中的產品品質所做的貢獻
	安捷倫推出整合邊界掃描和VTEP技術 (2008.03.11) 安捷倫科技（Agilent）宣佈將為內電路測試（ICT）用戶提供一個創新的方法，讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件（PCBA），而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程，時可省下夾具的成本及減少測試資源