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安捷倫推出整合邊界掃描和VTEP技術
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2008年03月11日 星期二

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安捷倫科技(Agilent)宣佈將為內電路測試(ICT)用戶提供一個創新的方法,讓他們在接觸受限的空間內測試印刷電路板組件(PCBA),而不會犧牲測試涵蓋率或產品上市時程,時可省下夾具的成本及減少測試資源。

此項技術結合了當今電子製造測試環境的兩項既有的測試方法:邊界掃描(Boundary Scan)和VTEP非向量測試。這個超強大的工具融合了邊界掃描的標準化、接觸受限(limited access)和數位激發能力,以及VTEP的非向量簡易特性。

這項技術對成本和品質有很大的影響。如今PCBA製造商可以選擇設計電氣接觸受限的電路板,以節省夾具成本及減少測試資源。此外,測試夾具使用的探棒變少,也可減輕對PCBA所施加的應力。

台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理申義龍表示:「從產業趨勢來看,產品的設計週期愈來愈短,而每個新世代產品都會結合更多的功能與更先進的技術。傳統的內電路測試方法就快要趕不上這些技術的發展了。」

「安捷倫致力於提供各種可行的解決方案,以解決當今製造環境所面對的成本壓力。這項技術是依安捷倫之前在ICT方面的創新技術如VTEP v2.0,以及Bead Probe技術和我們的1149.6能力開發而成。我們的客戶將依賴安捷倫的創新技術,來克服現今PCBA的測試挑戰。」

關鍵字: 內電路測試  非向量測試  VTEP  電路板  安捷倫(Agilent零件測試儀器 
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