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Tektronix光學通訊測試技術再獲美國專利 (2002.02.06) 太克科技(Tektronix)近日宣布其數位相位分析(Digital Phase Analysis,簡稱DPA)技術獲得美國的專利。這是一套創新的、領先業界的抖動分析法,可用於光學通訊網路的測試。當撥打電話時,抖動常會造成消費者無法撥通電話或不良的通話服務品質 |
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安捷倫科技推出全新抖動測試解決方案 (2002.01.22) 安捷倫科技為負責測試2.5 Gb/s和10 Gb/s光學通訊產品的SONET/SDH規格認證之研發工程師,推出了兩種新的抖動解決方案。這些新的抖動量測與分析系統可為光學工程師提供優異的設計觀點,讓他們大幅改善產品的功能、降低生產成本及提高良率 |
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