 |
挑戰行動裝置高整合度電源系統設計 (2003.10.05)
為迎合電子產品體積日益輕薄短小的趨勢，業者無不積極研發將內部零組件整合的技術，尤其是行動電話等產品的電源供應設計亦遵循此一趨勢，朝向更高階的晶片整合度發展 |
 |
NI推出新版高效能資料擷取軟體 (2003.09.16)
NI(National Instruments)於日前所舉行的NI Week中表示，該公司將推出『NI-DAQ 7』-新一代工業資料擷取驅動程式庫。工程師只要擁有NI-DAQ 7及LabVIEW 7 Express便可以相較前一版本10至1000倍速度，且可同步使用操作簡便之DAQ小幫手(DAQ Assistant)來量測及自動編寫程式 |
|
高速數位通訊系統中的抖動分析 (2003.09.05)
抖動可視為一種變動行為，這並與事件發生的時間相關，亦即在特定的時間預測所發生的事件。是數位通訊系統中眼圖的一個重要的參數，本文將介紹抖動相關的定義及基本的量測概念 |
|
研華推出前端出線迷你工業級電腦 (2003.08.28)
研華(Adventech)日前推出前端出線迷你工業級電腦─ATM-4000系列。研華表示，ATM-4023是專為量測市場所量身訂作的產品，前端I/O出線設計，可廣泛應用於量測市場之PXI、VXI及 Compact PCI客戶 |
|
TI推出電池管理元件新晶片組 (2003.08.26)
德州儀器 (TI) 宣佈推出包含三顆功能先進的電池管理元件新晶片組，可支援由兩顆、三顆或四顆電池串聯而成的電池組，應用對象包括可攜式醫療裝置、筆記型電腦、測試與量測儀器以及工業設備 |
 |
建構完整軟硬體環境 南港SoC設計園區正式啟動 (2003.08.20)
將台灣發展為世界級的SoC（System on a Chip；系統單晶片）中心，已經成為我國政府與IC產業界共同的目標，為達成此一願景，目前我國除了有針對半導體產業進行升級輔導的「SoC國家矽導計畫」 |
|
解析CMOS-MEMS技術發展與應用現況（下） (2003.08.05)
所謂CMOS-MEMS（CMOS-Compatible MEMS）是將半導體標準CMOS製程與微機電充分整合而成的技術，本文接續141期，在針對CMOS-MEMS技術的演進歷程、應用現況做了概要介紹之後，將列舉幾個CMOS-MEMS的設計實務案例，為讀者更詳盡剖析目前CMOS-MEMS的技術趨勢，並指出相關產業未來的發展方向與潛力所在 |
|
高速數位通訊系統眼圖原理簡介 (2003.08.05)
眼圖是一般在時域分析中常用的技術，它廣泛的應用在電腦及數位通訊及光纖通訊系統的測試分析中，其結果對信號的完整性分析，具有相當直觀且簡便的方法，本文將解釋眼圖形成的過程，並對衍生出的相關量測參數做一概念性的介紹 |
|
PCI Express測試技術－－主機板廠商搶攻市場關鍵武器 (2003.08.05)
根據台灣安捷倫科技(Agilent)電子儀器事業群市場經理巫介庭表示，從目前看來，Intel長期以來和PC產業的淵源及影響力，要獲得支持，只是時間早晚的問題而已；但在伺服器和通訊產業方面，則尚待後續的努力，值得觀察 |
|
建構完整軟硬體環境 南港SoC設計園區正式啟動 (2003.08.05)
將台灣發展為世界級的SoC（System on a Chip；系統單晶片）中心，已經成為我國政府與IC產業界共同的目標，為達成此一願景，目前我國除了有針對半導體產業進行升級輔導的「SoC國家矽導計畫」 |
 |
「PC-Based資料擷取與控制」訓練課程 (2003.08.01)
本課程將介紹如何使用研華Plug-in DA&C Card產品，將真實世界的信號與電腦連結，以完成精準的量測分析。包括硬體連線、驅動軟體的安裝及測試，介紹相關的範例及文件。讓使用者在最短時間內，開發出屬於自有產品，加速整個開發時程 |
|
TI推出業界速度最快的18位元類比數位轉換器 (2003.07.18)
德州儀器 (TI) 宣佈推出業界速度最快的18位元類比數位轉換器，進一步加強TI領先業界的Δ-Σ資料轉換器產品陣容。ADS1625來自TI Burr-Brown產品線，擁有傑出的高速效能，資料速率高達1.25 MSPS，最適合要求嚴格的量測應用，包括科學儀錶、自動化測試設備、資料擷取和醫療影像 |
|
偏極化及失真量測原理及實務 (2003.07.05)
高速通訊系統若以光纖做為媒介，在傳輸速度在2.5Gbps以上甚至更高，傳輸距離為公里尺度時，就可能造成訊號失真,延遲,偏極化等情形。本文將討論這些了解光學極化特性,造成誤差的原因及相關的量測方法，文中會先介紹色散,極化的原理，其次是對應的量測技術及範例 |
|
光纖被動元件之極化相依損耗量測 (2003.07.05)
目前有兩種普遍採用的方法可以量測PDL：極化掃描法Polarization Scanning Technique以及四態法（four-state method通常也稱為Mueller法）。如果需要量測多個波長的PDL，Mueller法比較快 |
|
TI推出16位元250 kSPS的SAR類比數位轉換器 (2003.07.01)
德州儀器 (TI) 宣佈推出16位元250 kSPS的SAR類比數位轉換器，提供四組真正的雙極輸入通道以及±2.5 V輸入範圍。這顆資料轉換器來自TI的Burr-Brown產品線，最適合資料擷取、測試與量測、工業程序控制、醫療儀錶和實驗室設備 |
|
鎖相迴路信號合成器測試要點 (2003.06.05)
在無線通訊設備中，壓控震盪器是一個關鍵零組件，搭配鎖相迴路，成為信號合成器，用以產生不同頻率的信號。本文將描述壓控震盪器及鎖相迴路特性參數的意義及測試方法，並說明迴路濾波器的設計會如何影響信號合成器的工作 |
|
縮小ESR量測誤差之要點 (2003.05.05)
現今許多電容和電感都具有低ESR值的特性，在量測時需要特別注意修正許多誤差的來源。不同頻率可以使用不同的方法來量測ESR，低頻的量測可使用自動平衡電橋及共振的技術；而使用空腔（cavity）的共振技術、網路分析儀的反射測試器以及專門的阻抗量測設備採用的RF-IV技術，則適合用於高頻的量測 |
|
高頻探針附件之使用 (2003.05.05)
高頻高頻探針頭連接線路如果不當容易產生不可預測的干擾信號，所以附件的正確使用是每一為工程師必備的常識，也許每個廠商的Probe形狀不太相同，但是附件的正確使用原理是相同的，本文針對探針附件的使用方法加以介紹，讓使用者得到正確的使用觀念 |
 |
以測試量測技術優勢 安捷倫進入ASIC市場 (2003.05.02)
安捷倫近日表示將以其晶片設計能力，鎖定幾家大擁有在運算、儲存和網路方面的ASIC市場之OEM廠，以投入進入ASIC市場。個人系統業務部ASIC產品部副總裁暨總經理James Stewart表示 |
|
思達成立國內首座半導體參數量測實驗室 (2003.04.29)
半導體測試設備業者思達科技，日前耗資5000萬元成立的思達實驗室已正式在新竹開幕，該實驗室為國內首座專業半導體參數量測實驗室，未來除將提供業界測試環境與服務，思達亦與工研院及投資思達的安捷倫科技簽訂合作備忘錄，提供工研院育成中心進駐廠商免費服務 |
