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CTIMES / 測試與量測
科技
典故
微軟的崛起

微軟於1975年,由比爾蓋茲和好友保羅艾倫共同成立,1981年,比爾蓋茲完成的MS-DOS 第一版與IBM生產的第一部個人電腦同步推出,藉由MS-DOS的成功,微軟陸續推出了很多廣受歡迎的軟體,除了注重產品間的相容性,也在軟體開發上重視長期目標的策略, 這就是微軟能持續保有市場的原因。
安捷倫向量網路分析儀選項提供RF NA和ZA功能 (2011.01.13)
安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,推出了旗下ENA系列Agilent E5061B 5-Hz至3-GHz向量網路分析儀適用的兩款選項。新的RF NA(網路分析)和ZA(阻抗分析)選項,可提升分析儀的頻率範圍、速度、升級能力和多功能性
宜特產品碳足跡與節能減碳檢測認證成果豐碩 (2011.01.12)
宜特科技(IST)於日前宣佈,在「產品碳足跡與節能減碳資訊服務平台暨工具開發計畫」上已取得豐碩成果,目前共輔導國內十家指標企業,其中九家已取得第三方查驗機構-BSI英國標準協會認證,第十家也將在1/25完成查證
改變訊號分析儀功能 Tektornix推出雙倍擷取頻寬 (2011.01.10)
隨著RF訊號變得日益複雜、ISM頻帶技術的使用變得更普遍,極為重要的是設計人員、工程師和操作人員能夠以可靠而有效率的方式,針對越來越廣的操作頻寬,找出數位RF電路產生的暫態頻譜現象
Tektronix為PCIe 3.0測試解決方案提供更多功能 (2011.01.10)
Tektronix近日宣佈,針對最完整的PCI Express 3.0解決方案推出新功能。這項新的方案可使用Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器,進行實體層發送器(Tx)的驗證、除錯、特性分析與相容性測試
安捷倫「智慧型行動裝置研討會」即將登場 (2011.01.07)
台灣安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,將於元月11日(二)在台北維多麗亞酒店及元月12日(三)在新竹國賓飯店舉行【智慧型行動裝置研討會】,該場研討會由安捷倫科技與捷創科技所共同舉辦
安立知推出新款MD8430A/RTD (2010.12.29)
安立知近日宣布,推出MD8430A訊令測試儀單台即可支援FDD/TDD LTE 4x2 MIMO測試,在測試穩定度及功能性。 此外,可搭配PCT軟體進行訊令一致性測試以及執行NTT DoCoMo提供的IOT測試案例
安捷倫Infiniium 90000 X系列示波器提名最佳測試產品獎 (2010.12.22)
安捷倫科技(Agilent)於昨(21)日宣佈,旗下的Infiniium 90000 X系列示波器,被提名2010年Elektra歐洲電子產業獎(Elektra)的年度最佳測試產品。 Elektra獎係由獨立的評審團,針對16個獎項類別進行評選
安捷倫推出線上數位測試解決方案和技術中心 (2010.12.19)
安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,已推出線上數位測試解決方案和專業技術中心。該學習網站為客戶提供各種基本的高速數位測試工具,包括USB 3.0、DisplayPort和HDMI、SATA/SAS、PCI Express、MIPI與記憶體
Agilent N6141A/W6141A EMC 量測應用 (2010.12.17)
Agilent N6141A/W6141A EMC 量測應用軟體可用於 X系列信號分析儀,以提供支援先期認證測試的多功能解決方案。
推廣GSD不遺餘力 NI圖形化系統設計競賽完美落幕 (2010.12.16)
美商國家儀器(NI)一年一度的圖形化系統設計(Graphical System Design,GSD)競賽,於昨(15)日進行總決賽暨頒獎典禮,此競賽分為應用徵文比賽以及產品創業競賽兩大類,皆是運用GSD的理念,延伸到模組產品設計及專案成果上
安捷倫Infiniium 90000 X示波器獲EDN China創新獎 (2010.12.15)
安捷倫科技(Agilent)於昨(14)日宣佈,該公司旗下的Infiniium 90000 X系列示波器,榮獲2010年EDN China創新獎的最佳測試與量測產品。 EDN China創新獎源自於EDN創新獎,在中國微電子領域被視為標竿獎項
福祿克針對惡劣工業環境 推出三款新量測應用產品 (2010.12.13)
美商福祿克(Fluke)於今(13)日召開新品記者會,在會中發佈了三款全新量測應用產品,包含190系列Ⅱ攜帶式示波器、810振動測試儀及381&370系列電流鉤表。這三款產品皆相當適合應用於惡劣工業環境下使用之量測工具
Tektronix推出超低價、高效能新型示波器平台 (2010.12.13)
Tektronix近日宣佈,擴大示波器產品優惠方案,推出全新MSO/DPO5000系列混合訊號示波器平台。Tektronix同時推出新型TPP1000和TPP0500探棒,此款高頻寬、低電容被動式電壓探棒具有突破性的效能
安捷倫新奈米壓痕技術可對薄膜材料進行基板量測 (2010.12.06)
安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,推出Agilent G200奈米壓痕測試儀平台專用的創新奈米壓痕技術。其賦予研究人員利用該技術,可快速、容易且對薄膜材料進行基板獨立量測
Linear精確的RF功率偵測器LTC5564 (2010.12.06)
凌力爾特(Linear Technology Corporation)近日宣布,推出精確的RF功率偵測器LTC5564,此元件可操作於 600MHz至15GHz,從脈衝射頻訊號具備非常快的7ns響應時間。此外,該元件具有一個晶片上的快速比較器,傳輸延遲為9ns
德國萊因獲EPA認可 提供能源之星測試服務 (2010.12.02)
德國萊因於日前宣佈,巳通過美國環保署認可的第三方測試實驗室資格,可為能源之星計劃提供獨立公正的第三方測試。 美國環境保護署(EPA)在2010年開始修改已建立的能源之星計劃
主動式的認證科技 - 人臉辨識 (2010.12.02)
主動式的認證科技 - 人臉辨識
安立知推出綜合量測儀器 (2010.11.29)
安立知近日宣布,推出MP2100A系列是一個集所有功能於一身的綜合測試儀,支持同步測量誤碼率和眼圖分析,用於評價主動元件的性能特性。 MP2100A系列全新的速率擴展功能- MP2100/01A-090,讓使用者由原本8
睽違三年,NIDays 2010即將上演 (2010.11.24)
美商國家儀器所主辦的NIDays,橫跨全球數十個國家巡迴展出,今年台灣場將於2010年12月7日台北國際會議中心隆重登場,這場NI年度最盛大的科技饗宴,預計將會有近千名工程師與研發人員齊聚一堂
Tektronix為Sentry監控解決方案新增缺陷偵測功能 (2010.11.24)
Tektronix近日宣佈,在2010年有線電視技術展(Cable-Tec Expo 2010)推出該公司獲獎Sentry數位內容監視器的重大增強功能,可偵測數位節目中的視訊與音訊錯誤,同時產生與平均評價分數關聯的衡量標準(MOS),讓Sentry成為市面上唯一的可擴充解決方案

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