帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix為PCIe 3.0測試解決方案提供更多功能
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2011年01月10日 星期一

瀏覽人次:【3069】

Tektronix近日宣佈,針對最完整的PCI Express 3.0解決方案推出新功能。這項新的方案可使用Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器,進行實體層發送器(Tx)的驗證、除錯、特性分析與相容性測試。藉由此項新功能的推出,Tektronix現在提供了PCI Express最廣泛而完整的一組實體層與協定層量測功能。

Tektronix為PCIe 3.0測試解決方案提供更多功能
Tektronix為PCIe 3.0測試解決方案提供更多功能

PCIe 3.0架構提供低成本的高效能I/O技術,包含新的128b/130b編碼機制與8 GT/s 的資料率,將PCIe 2.0的互連頻寬倍增。PCIe 3.0沿用與前代規格相同的電路板材料(FR4)和接頭,由於因應通道中訊號損失增加所需的更小邊際和新的抖動量測,這項規格也帶來了更加困難的測試挑戰

新的Tektronix PCIe 3.0解決方案(選項 PCE3)承續了PCIe Gen 1與Gen 2測試解決方案的成功經驗。若搭配串列資料連結分析(SDLA)軟體,即可提供完整的解決方案,用來驗證PCIe 3.0設計的發送器與通道效能,並同時支援PCIe 3基本規格與CEM規格量測。

關鍵字: Tektronix(太克
相關產品
Tektronix全新遠端程序呼叫式解決方案從測試儀器迅速傳輸資料
太克4系列B混合訊號示波器 提供更快分析和資料傳輸速度
Tektronix推出增強型KickStart Battery Simulator應用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4邊限測試儀 簡化並加速PCIe測試
Tektronix PCI 6.0接收器測試解決方案 滿足下一代高效能需求
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA0BX29USTACUK8
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw