 |
淺談USB規格與認證要點 (2005.04.01)
USB是否會像放大鏡或羅盤一樣對人類造成長久深遠的影響？自從1990年代中期出現以來，該標準已獲得廣泛的採用，但究竟是什麼原因讓USB如此強大？最簡單的答案就是標準，其中又以USB規格最重要 |
|
錙銖必較－奈米設計建構上的需求 (2003.04.05)
奈米等級的IC設計不但所需技術愈趨複雜化，設計的過程中可能遇到的問題也隨著製程的微小化而增加；本文將分析進行奈米級IC設計時，工程師應掌握的關鍵議題與必須面臨的挑戰，並指出目前的技術可克服的瓶頸與未來趨勢的發展 |
 |
新思與Virtual Silicon和Silicon Metrics合作 (2002.03.11)
新思科技（Synopsys Inc.），11日與Virtual Silicon科技及Silicon Metrics公司共同宣佈，為PrimeTime SI提供了Virtual Silicon 的eSi-Route標準技術技術元件資料庫。這些技術技術元件資料庫乃是利用Silicon Metrics的SiliconSmart CR工具進行參數萃取而組成，並且具備合格的條件，可以在無廠房設備的流程中，支援PrimeTime SI針對0 |
|
新思和Silicon Metrics 共同開發單晶片系統記憶體特性分析解決方案 (2002.01.10)
新思科技及Silicon Metrics Corporation十日宣佈推出其記憶體特性分析解決方案。這套方案是以新思科技的NanoSim作為多層級混合信號模擬器及Silicon Metrics的SiliconSmart MR作為開發基礎，並且充分運用了 NanoSim的階層式陣列減化 (HAR) 技術及SiliconSmart MR的記憶體特性分析和塑模工具，可隨時提供設計單晶片系統 (SoC) 所需的記憶體模型 |
