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愛德萬測試與PDF Solutions聯手 針對IC測試優化打造ACS產品 (2021.10.04)
為了擴大先進分析應用，並透過與測試端更緊密的整合，催生更有價值的系統與解決方案。愛德萬測試（Advantest）與半導體產業生態系全面性資料解決方案供應商PDF Solutions Inc |
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太克推出S530參數測試系統 加速半導體晶片生產 (2021.09.27)
Tektronix 發布了適用於 Keithley S530 系列參數測試系統的 KTE V7.1 軟體，在全球市場最需要的時機協助加速半導體晶片的製造流程。
KTE V7.1 版本首次提供的新選項包括全新的平行測試功能和獨特的高壓電容測試選項，適用於新興電源和寬能隙應用 |
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Tektronix推出S530列參數測試系統 搭配KTE 7軟體支援WBG製造 (2020.10.07)
測試與量測解決方案供應商Tektronix公司今天發布了新款Keithley S530系列參數測試系統，以及KTE7軟體和其他增強功能。S530平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力，同時有效降低CAPEX投資，並顯著地提升每小時晶圓產量 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半導體測試系統 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半導體測試系統，這是為高達3kV的功率半導體裝置和結構提供的全自動48針腳參數測試系統。完全整合的S540是專為與最新複合功率半導體材料 （包括碳化矽 （SiC） 和氮化鎵 （GaN）） 搭配使用而進行最佳化處理，可在一次探頭接入中執行所有高壓、低壓和電容等測試 |
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吉時利儀器擴展參數測試系統量測能力 (2012.03.27)
吉時利(KEITHLEY)持續強化S530參數測試系統，使這款測試系統為參數測試最具成本效益的解決方案。在最新版本吉時利測試環境軟體(KTE V5.4)的支援下，S530目前可被配置為48 pin 完整的Kelvin開關與搭配最新選項以提供脈衝產生器、頻率量測和低電壓量測 |
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吉時利最新的S530系列參數測試系統-吉時利最新的S530系列參數測試系統 (2011.11.18)
吉時利最新的S530系列參數測試系統 |
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吉時利針對晶圓廠推出半導體測試軟體升級版 (2011.09.27)
吉時利儀器（Keithley）公司於日前宣佈，推出測試環境（KTE）半導體測試軟體的升級版。KTE V5.3是專為配合吉時利的程式控制監控方案產品線S530參數測試系統使用所設計。
吉時利表示，KTE是一款強大的測試開發和執行軟體平台，全球有數百家半導體晶圓廠皆使用吉時利前幾代的參數測試系統 |
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延續投資效益 晶圓廠投資測試軟體不手軟 (2011.09.25)
對於量測業者來說，測試系統新舊版本相容性是新版本能否成功的關建之一。量測業者吉時利致力於讓新測試系統高度相容於較早的系統，以支援吉時利參數測試客戶。推出的新版本測試環境（KTE）半導體測試軟體--KTE V5.3，是專為配合程式控制監控方案產品線S530參數測試系統使用所設計 |
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吉時利儀器強化參數測試系統的處理量與精確度 (2011.04.17)
吉時利儀器（Keithley）於日前宣佈，針對S530參數測試系統的進行數個更新；S530參數測試系統目前廣泛用於半導體產業。這些更新包括增加吉時利最新的高處理量切換主機、協助完整切換訊號 |
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整合是為了創造更大優勢與更強能力 (2011.04.15)
各種研發、可靠度和生產測試等應用上，非常需要針對高功率電子特性分析而設計的高功率系統電源電錶。對此，吉時利儀器推出了2600A SourceMeter系列的最新產品Model 2651A，可提供業界最寬的電流應用範圍，滿足測試高亮度LED（HBLED）、功率半導體、DC-DC轉換器、電池，以及其他高功率材料、元件、模組和零件等測試需求 |
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Keithley新品發表會 (2011.04.12)
美商吉時利秉持著對測試及量測市場的堅持，持續精進技術並推出更多符合客戶需求的產品。這一次除了推出備受好評的系統電源電錶(System SourceMeter®)的最新型產品2651A；也推出業界功能最強大的參數測試系統，協助客戶實現高功率元件的準確特性分析 |
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安捷倫針對半導體元件模擬應用推出新軟體 (2010.08.30)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，推出了積體電路特性描述與分析程式 (IC-CAP) Wafer Professional (WaferPro) 軟體。該款新軟體為半導體元件的模擬應用，提供一個多元件、多晶圓的自動化直流與射頻量測解決方案 |
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Aeroflex發表針對含LTE的RF參數測試完整解決方案 (2009.12.02)
Aeroflex宣佈推出7000系列向量分析儀產生器（VAG），是單一、集成之RF參數測試系統,可用於無線零組件和子系統的RF測試。7000系列在單一裝置中結合了向量訊號產生和向量訊號分析功能，提供一個集成的方案來測量包括LTE等複雜的無線電標準 |
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吉時利宣布將與Stratosphere Solutions合作 (2008.03.13)
美商吉時利儀器(Keithley)宣布今後將與Stratosphere Solutions進行密切合作。Stratosphere Solutions是專為IC廠商提供創新參數良率改良方案的廠商。兩家公司將合作，運用Array TEG(測試元件群)技術，以支援先進製程的開發和監控 |
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美商吉時利儀器推出晶圓參數測試系統 (2007.07.30)
量測解決方案廠商—美商吉時利儀器公司，宣布晶圓參數測試系統--S600系列的多項功能，包括將每個測試系統的控制電腦移轉為Linux作業系統， 提供更穩定的作業系統與使用壽命更長的電腦，降低客戶新設工作站與升級軟硬體資源的需求 |
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安捷倫科技推出4080系列新款參數測試平台 (2007.04.24)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）發表專為解決半導體製造與研究環境工程人員之評估需求而設計的新一代參數測試平台。Agilent 4080系列以前所未見的效能，涵蓋完整範圍之量測需求 - 從主流製程到45奈米以上的先進製程 |
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力晶選用Agilent測試系統執行晶圓參數測試 (2006.06.05)
安捷倫（Agilent）宣佈，力晶半導體12M新廠決定採用Agilent 4070系列之高精密參數測試系統，以執行產品之晶圓參數測試Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷倫科技之Agilent 4070系列提供了卓越品質, 高穩定, 及高輸出(throughput) 之完整參數測試解決方案，能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求 |
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安捷倫93000及4073參數測試獲Crolles2聯盟青睞 (2006.02.27)
Agilent Technologies安捷倫科技宣佈，Crolles2聯盟已採購三套Agilent 93000 Pin Scale測試系統以及四套4073先進參數測試系統，從事CMOS製程技術的研究、發展及工業化應用。
由意法 |
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Keithley第三代RF測試新藥方 高品質、低成本、不須費心關注 (2005.04.01)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）創立於1946年，在精密測試及量測領域累積不少經驗，尤其是微弱伏特、電流、電阻及電容等產品之量測，在業界素執牛耳。 |
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Keithley第三代RF測試新藥方 高品質、低成本、不須費心關注 (2005.04.01)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）創立於1946年，在精密測試及量測領域累積不少經驗，尤其是微弱伏特、電流、電阻及電容等產品之量測，在業界素執牛耳。 |
