美商吉時利儀器(Keithley)宣布今後將與Stratosphere Solutions進行密切合作。Stratosphere Solutions是專為IC廠商提供創新參數良率改良方案的廠商。兩家公司將合作，運用Array TEG(測試元件群)技術，以支援先進製程的開發和監控。

IC製造商試圖製造越來越小的元件，因此sub-65nm的製程變異參數，對設計與測試工程人員形成艱鉅的挑戰。也因此，半導體產業愈來愈需要能夠有效監控極端敏感製程的解決方案，以提高IC效能同時維持良率。Keithley 與Stratosphere Solutions將為雙方的顧客提供獨特的特性分析架構，結合Keithley的S600系列參數測試系統 以及StratoPro IP，達成高產量、高流量、且可靠的參數量測，以確保顧客的成功。

Keithley事業管理副總裁Mark Hoersten表示：「隨著半導體技術的開展，元件微型化已達奈米等級，量測技術不僅必須跟上甚至還得超越製造商製造與測試這些元件的能力。作為半導體量測技術的領導廠商，Keithley希望與其他業界領導廠商合作，針對最先進的應用開發各種創新的解決方案。 」