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高速數位傳輸需求倍增 筑波聚焦整合測試方案 (2023.04.28)
2023全球資通訊發達、影音應用新興生態崛起，頻寬需求殷切，高速數位傳輸介面因應倍增數據傳輸交換應用更加廣泛，筑波科技近期舉辦「高速數位傳輸介面測試方案」研討會，為客戶提供先進的高速數位介面測試整合方案 |
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行動通訊與高速介面雙主題 安立知年度盛會引領通訊量測技術潮流 (2023.03.23)
Anritsu 安立知年度技術論壇「Anritsu Tech Forum 2023」首度聚焦「行動通訊」與「高速介面」雙主題，結合了豐富精彩的專題演說內容，以及多款最新測試量測儀器與應用的展示，讓現場超過 500 位與會的產業菁英滿載而歸 |
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台北光電週--致茂展示多元光學測試解決方案 (2017.06.06)
精密電子量測儀器廠商致茂電子將於6月台北國際光電大展，展出最新雷射二極體測試、視頻與色彩測試與太陽光電自動光學測試解決方案。
近來雷射二極體(Laser Diode)應用廣泛，尤其在人臉辨識、無人車、與現行光通訊領域，隨著雷射二極體需求提高，相對注重雷射二極體的品質與可靠度 |
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Tektronix推出高靈敏度、低雜訊的新款光學模組 (2017.03.29)
Tektronix(太克科技)為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊，並配備了全新功能，可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量 |
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Tektronix展示為資料中心網路開發的最新光學測試創新技術 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上將展示100G、400G標準光學量測技術的最新發展，以及支援多OMA系統的光學調變分析軟體的端對端示範?
全球量測解決方案供應商Tektronix(太克科技)將在OFC 2017上展示為資料中心網路所開發的最新光學通訊測試技術，OFC 2017是專為全球光學通訊和網路專業人士所舉辦的研討會 |
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Agilent J-BERT讓高速數位量測難題一次解決 (2014.01.23)
由於手機、平板等裝置的資料傳輸量越來越龐大，儘管帶動了伺服端設備的成長，但同時也帶來了更多測試的挑戰。高速數位傳輸的環境變得比過去更加複雜，傳輸速度要變得更快、傳輸效能要提高、且還要克服比過去更多的干擾訊號 |
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銀奈米線替代ITO技術剖析 (2013.11.26)
新式觸控應用讓ITO技術面臨挑戰，讓銀奈米線找到極佳的市場切入點，
本文將深入比較兩項技術的優缺點，以及可撓式應用上的新市場需求。 |
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LED照明驗證檢測標準與時俱進的服務領航者 (2009.11.12)
李志明表示：在LED量測和安全標準領域，台灣德國萊因願意扮演更為積極的角色。長期來看，國際性的LED照明標準應會朝向不斷相互整合的趨勢前進。台灣在自立發展制訂LED照明標準的同時，可更為全面地融入國際標準 |
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安捷倫於OFC/NFOEC 2009展示光學測試解決方案 (2009.04.16)
安捷倫科技（Agilent）於OFC/NFOEC中展示首款適用於40到100G裝置測試的光學調變分析儀、具PON濾波器速率的PXIT 10G DCA、獨特的智慧型後處理技術、以及可對光學元件和信號進行特性描述與分析的光通訊應用軟體套件 |
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安捷倫發表首款基於時域的光學調變分析儀 (2009.03.24)
安捷倫科技（Agilent）發表首款基於時域的光學調變分析儀，其可深入分析經振幅與相位調變的光學信號。此款光學測試儀器，是與安捷倫實驗室Agilent Labs共同開發而成。這是一款結合大頻寬、多偏振相干光接收器技術、Agilent 89600向量信號分析軟體（VSA）、以及安捷倫高速即時資料蒐集設備Infiniium 90000系列示波器為基礎的測試儀器 |
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光電週LED展區 致茂盛大展出全系列LED測試 (2008.06.11)
國內量測儀器大廠致茂電子在今年光電週LED展區，針對當今最熱門的LED產業推出全系列的製程測試解決方案。由於LED具備輕巧、節能、環保、耐用、高亮度等多種優異特性下，逐漸在各個產業的應用上嶄露頭角 |
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綜觀CMOS影像感測器技術特性 (2006.01.25)
傳統的CCD（電荷耦合元件）影像感測器技術已經無法滿足目前工業與專業攝影影像擷取之需求。業界以標準CMOS技術為基礎，開發出創新的區域感測器替代方案，這類CMOS元件具有極佳的彈性、優異的靜態與動態特性，以及易於與所有系統環境整合的功能，醫療電子就是最典型的創新應用 |
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德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊 (2005.03.07)
全球規模最大的資訊暨通訊大展CeBIT即將於3/10~3/16於德國漢諾威盛大登場。為了提供即時的資訊，德國萊因集團將於第6會場H09攤位，提供環球驗證、人體工學、產品壽命測試、品牌保護、TUVdotCOM整合性互動服務、WEEE & RoHS、光學測試、GS標示、VoIP聲音品質測試 |
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Tektronix將參加台北光電展及國際電信網路展 (2002.07.11)
Tektronix (太克科技)將參加台北世貿中心舉辦的2002 年台北光電展(8月15日至18日)及國際電信網路展(8月23日至26日)，展出全系列通訊及光電設備測試量測儀器。Tektronix表示，該公司除了擁有堅強的通訊與光電測試儀器，更於近日併購了光元件測試與量測科技領導者 德國Profile 公司 |
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Tektronix邁入光學元件及DWDM實體層測試 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前發表光學測試系統實體層量測應用之新系列產品，它為密集波長分割多工 (DWDM) 元件及網路元件的光學設備製造商設定高準確度、高解析度，及高生產率之新效能測試 |
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太克量測應用展將於4月26日登場 (2002.03.15)
Tektronix台灣分公司太克科技即將於4月26日（星期五）假台北國際會議中心舉辦一年一度的『太克2002量測應用展暨技術研討會』，分享這一年來測試與量測技術研發成果。「太克科技量測應用展」是專為台灣客戶籌畫的年度技術應用交流大會，適合從事於電腦、通訊及消費性電子等領域的研發、設計、維護及製造工程人員參與 |
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Tektronix光學通訊測試技術再獲美國專利 (2002.02.06)
太克科技(Tektronix)近日宣布其數位相位分析（Digital Phase Analysis，簡稱DPA）技術獲得美國的專利。這是一套創新的、領先業界的抖動分析法，可用於光學通訊網路的測試。當撥打電話時，抖動常會造成消費者無法撥通電話或不良的通話服務品質 |
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太克發表新型數位量測方法轉換光學抖動分析 (2002.02.05)
Tektronix(太克科技)近日發表突破性的光學抖動量測儀器，可以協助設備製造商加速用於核心量測網路的10 Gb/s SONET/SDH設備的設計與生產速度。新的Tektronix OTS9200 抖動分析模組，是全球首套全數位化光學抖動量測工具，內建於Tektronix專利數位相位分析（Digital Phase Analysis，簡稱DPA）技術上 |
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太克科技2002總目錄登場 (2001.12.07)
太克科技(Tektronix)新發行的「Tektronix 2002 測試、量測，與監視產品目錄」已正式登場。Tektronix 2002目錄包含廣泛，有應用於設計、建置、部署和管理全球通訊網路，及進階網際網路科技等超過1,400種的測試、量測，與監視產品 |
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太克推出高效能掌上型光學測試器 (2000.09.05)
太克科技(Tektronix)宣佈推出完整的掌上型(迷你型)光時域反射器(optical time domain reflectometer, OTDR)、光功率表模組及容納新模組的控制與顯示平台NetTek分析儀產品系列。太克表示，該9款新的OTDR模組將可以協助光纖網路提供者和交換業者(Inter-Exchange Carriers, IXCs)只需投資及維護少數的儀器類型，就能夠完成許多不同的量測工作 |
