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CTIMES / 過壓保護ovp元件
科技
典故
第一顆電晶體(Transistor)的由來

第二次世界大戰末期,貝爾實驗室開始一項研究計畫,目標是研發出一種體積更小、功能更強大、更快速且可靠的裝置來取代真空管。1947年12月23日,由貝爾實驗室研發的電晶體取代了真空管,優點是體積更小、更可靠、且成本低廉,不僅孕育了今日遍及全球的電子半導體產業,同時也促成電訊電腦業、醫學、太空探測等領域產生戲劇性的改變。
Fairchild過壓保護元件具有USB/充電器檢測功能 (2009.03.30)
快捷半導體(Fairchild Semiconductor)為手機、行動音訊、電腦和消費應用設計人員提供一款高整合度、且帶有USB/充電器檢測功能的過壓保護(OVP)元件,型號為FAN3989。該元件整合了板上FET,並具有內建的自動檢測功能,可以感測USB充電器是否存在,而所有功能均整合在單一封裝之中

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