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CTIMES / 晶圓缺陷檢測系統
科技
典故		 只有互助合作才能雙贏——從USB2.0沿革談起

USB的沿革歷史充滿曲折，其中各大廠商從本位主義的相互對抗，到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作，能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省？
應材推出新款晶圓缺陷檢測系統 (2005.06.24)
半導體製程設備供應商應用材料宣佈推出晶圓缺陷檢測系統UVision，該系統是半導體業第一台雷射3D明視野（brightfield）檢測系統，主要針對65奈米或更先進的製程所需要的高檢測敏銳度與生產力提出解決方案，能發現並解決前所未見的「致命」缺陷

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