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凌華科技6/16舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」 (2016.06.06)
凌華科技將於2016年6月16日假台北矽谷國際會議中心2B會議廳，舉辦「智動化量測關鍵技術研討會」，偕同致茂電子（Chroma）與能高電子（OpenATE）分享最新量測趨勢與應用，掌握工業物聯網與電子量測關鍵技術，全面破解降低測試成本與提高測試效能之道，以加速產品開發及專案時程
能高電子推出四款PXI平台IC測試模組 (2010.01.31)
能高電子於今日（1/31）宣佈，將於二月推出更新版本之四款PXI平台IC測試模組。能高電子有鑑於今日IC不斷快速變化的環境中，苦於現有ATE銜接不上的窘境，該公司將產品規格、特性做一區隔，讓使用者可依照自身需求，自行選購並組裝適合之模組
IC Tester DIY？能高推PXI半導體邏輯測試模組 (2009.09.15)
有鑒於IC發展日新月異，傳統量測設備已不敷使用，能高電子不斷投入開放式架構之自動測試儀器的研發工作，旗下的軟體平台有MTS2及GATE兩大系統，硬體包含PXI可程式化FPGA母板、PXI半導體測試模組以及測試向量控制卡三大部分


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