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安捷倫參數測試解決方案獲茂德科技選用 (2005.05.25)
安捷倫科技（Agilent Technologies）日前宣佈，茂德科技中科12吋晶圓廠選中安捷倫4072B參數測試解決方案，以測試其高效能的標準型DRAM產品，原因是這套測試系統不論在速度和性能上皆大幅領先它廠
安捷倫半導體元件分析儀可整合CV及IV量測能力 (2005.04.29)
安捷倫科技（Agilent Technologies）推出一套Windows架構的半導體元件分析儀，可將電容相對於電壓（CV）及電流相對於電壓（IV）等兩種量測能力整合到單一儀器中，不僅有助於節省半導體測試時間，同時還能提高生產力
安捷倫推出兩款DC/RF/Pulse參數測試系統 (2005.03.16)
安捷倫科技（Agilent Technologies）新近推出Agilent 4075及4076 DC/RF/Pulse參數測試系統，可量測65 nm等先進製程技術所製造之元件的特性。Agilent 4075及4076可讓半導體測試工程師量測RF和DC的特性


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