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加速車用晶片設計時程 新思科技工具獲ISO 26262認證 (2016.08.02)
廣泛來看，諸多國際一線的半導體業者投入車用電子領域已有不短的時間，然而在市場開始推廣功能性安全標準：ISO 26262後，不光是汽車與一線模組廠需要滿足此一規範，近年來，我們可以看到不少一線車用半導體大廠，除了AEC-Q100視為解決方案的基本配備外，ISO 26262這個字眼，也開始出現在車用半導體的世界中 |
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Tektronix 推出MIPI Alliance M-PHY測試解決方案 (2012.03.20)
Tektronix(太克)昨日宣佈，推出一套供 MIPI Alliance M-PHY 測試的完整自動化解決方案，提供業界最廣泛和最完整涵蓋的新興標準。除進一步增加支援業界領先的 MIPI 標準外，Tektronix 並發布新的協定解碼和分析解決方案，可在其示波器上執行的 M-PHY UniPro 和 LLI 協定 |
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可以幫助您校正您的LCD或CRT顯示器,一系列顏色和伽瑪調整,如:顏色,黑/白亮點和亮度設置...等。-Atrise Lutcurve 1.5.3 (2011.03.31)
可以幫助您校正您的LCD或CRT顯示器,一系列顏色和伽瑪調整,如:顏色,黑/白亮點和亮度設置...等。 |
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使您能夠分析和測試品質和性能的PC顯示器或液晶螢幕使用的工具(一系列25個測試模式)-MonitorTest 3.1.1000 (2010.09.08)
使您能夠分析和測試品質和性能的PC顯示器或液晶螢幕使用的工具(一系列25個測試模式) |
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可以幫助您校準LCD/LED/OLED/PDP或CRT顯示器顏色和階調濃度,黑白點和亮度設置,以便顯示中性色的工具-Atrise Lutcurve 1.5.2 (2010.08.15)
可以幫助您校準LCD/LED/OLED/PDP或CRT顯示器顏色和階調濃度,黑白點和亮度設置,以便顯示中性色的工具 |
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IDT發表HQV DVD視訊效能標準測試光碟 (2010.01.19)
IDT（Integrated Device Technology）近日發表，下一代好萊塢高品質視訊標準（Hollywood Quality Video；HQV）Benchmark DVD視訊效能標準測試光碟，已協助評估標準解析度和高解析度產品的畫像品質、處理和效能，包括顯示器、DVD和藍光播放機、影音接收器、投影器，和視訊處理盒等 |
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ADI發表18款全新低功率ADC (2009.05.14)
美商亞德諾公司（Analog Devices）14日正式發表18款極具電源效率，解析度範圍從10到16位元的類比數位轉換器（ADC）。ADI的全新ADC乃是以對於電力需求極為敏感的通訊、工業、可攜式電子裝置、以及儀器設備等為對象所設計，相較於許多同質性ADC，可以降低功率耗損達到60%之多，並且擁有同級產品中最佳的雜訊性能與動態範圍 |
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安捷倫推新一代儲存及電信元件與系統測試方案 (2009.05.14)
安捷倫科技（Agilent）針對新一代儲存及電信元件與系統的測試，推出三款新的量測解決方案。這些新的解決方案是以現有的Agilent 86100C數位通訊分析儀（DCA）為基礎。這些工具可以讓工程師，輕易地虛擬他們最新的元件和系統設計，並且準確地量化設計的品質 |
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智原科技宣佈開始提供SiP設計服務 (2008.03.20)
智原科技(Faraday Technology)宣佈將開始提供SiP(system in Package)設計服務，目前已開發RF SiP專案，主要應用於GPS產品。智原並將持續優化其設計流程，包括設計流程自動化以及提供客戶封裝及電性分析報告等 |
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12/14位元低功率類比數位轉換器 (2007.07.24)
本文將介紹一系列高效能高速類比/數位轉換器，採用先進CMOS製程技術製造的類比/數位轉換器不但功能效能齊備，另一特點是可支援高階架構設計，而且功耗低，是資料轉換系統的理想解決方案 |
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IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法 (2007.06.29)
在延遲錯誤測試方面，我們提出了兩種延遲錯誤測試方法，稱之為G1P2以及G2P2。G1P2為一省測試面積及測試時間的延遲錯誤測試方法，而G2P2為一準確的高速(At-Speed)延遲錯誤測試方法 |
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創意電子推出H.264全方位平台解決方案 (2006.08.03)
SoC設計服務廠商創意電子(GUC,Global Unichip Corp.)三日推出新世代影像壓縮技術H.264的全方位平台解決方案。該項方案中的H.264影像編碼器和解碼器IP，已在創意電子標準的AMBA-based GPrime/UMVP-2000驗證平台上完成工程驗證 |
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創意電子推出UINF-0041全方位解決方案 (2006.06.19)
SoC設計服務廠商創意電子(GUC,Global Unichip Corp.)宣佈，其High Speed USB2.0 OTG解決方案UINF-0041已成功通過USB-IF的認證程序。UINF-0041所通過的「Compliance Program of High-Speed OTG Device」為USB-IF甫於今年第一季發佈的認證程序，全球認證件數目前僅有個位數 |
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類比/混合訊號之內建式自我測試電路 (2005.07.05)
在電路設計要求功能強大且又快又好的趨勢下，IC設計廠商也不得不對外取得矽智產，對於如何驗證與修改外部取得的矽智產以符合自己公司需求亦為IC設計廠商的重點。因此可量測性設計（Design for Testability；DfT）的技術亦顯得日益重要 |
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提高IC測試品質的設計策略 (2005.05.05)
奈米製程讓IC測試品質面臨許多新挑戰，本文將介紹各種可用以提高測試品質的可測試設計策略；例如利用可準確產生時脈週期之PLL來進行實速測試，以及全速式記憶體內建自我測試等 |
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可測試性設計技術趨勢探索 (2005.05.05)
當IC設計日益複雜化，尋找更具成本效益的測試方法成為一大課題；本文將介紹國內可測試性設計（Design for Test）技術的發展現況，包括類比/混合訊號電路的內建自我測試技術（Analog/Mixed Signal Built-In-Self-Test；AMS BIST）、記憶體測試技術（Memory Testing），以及整合核心電路測試機制的系統晶片測試架構（SoC Testing）等技術 |
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微處理器測試的SoC時代新挑戰 (2003.05.05)
在電子產品中應用廣泛的微處理器，隨著晶片面積縮小、功能與複雜度增加，其設計驗證與生產測試的難度也隨之增加；本文將針對微處理器的生產測試技術，為讀者剖析目前微處理器主要的測試策略，以及在系統晶片（System on Chip；SoC）時代所面臨的新挑戰以及可能的解決之道 |
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IC測試業的回顧與展望 (2001.10.05)
台灣IC產業的成長率一向高於全球至少10%以上，在全球景氣低迷時我們還能夠維持正成長，但隨著國內大舉投資資金於產能的擴充之下，看來台灣與全球半導體景氣的脈動更為靠近了，廠商也更受全球產業發展趨勢的影響 |
