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邏輯分析儀與時俱進 快速找出數位問題 (2020.08.11)
邏輯分析儀最基本的任務,就是依據擷取到的資料製作時序圖。
FuturePlus推出太克邏輯分析儀使用DDR3調解器 (2008.07.18)
FuturePlus Systems Corp.推出新一代雙倍資料速率(double-data-rate, DDR)SDRAM匯流排應用的FS2355 DDR3 1333調解前置處理器。此一全球最快的調解器配合Tektronix TLA7000系列邏輯分析系統使用,以加強最新高性能DDR記憶體技術的1333 DIMM卡的偵測、提高可靠性和縮短上市時程
Tektronix與Rapita Systems增強其夥伴關係 (2007.09.06)
Tektronix宣佈已和嵌入式軟體工具廠商Rapita Systems Ltd.結盟成為夥伴。Rapita的創新RapiTime最差狀況執行時間分析軟體,若與Tektronix TLA5000和TLA7000系列邏輯分析儀整合,可為負責開發與除錯嵌入式即時系統之應用程式軟體的軟體設計者,提供最先進的軟體效能分析解決方案
Tektronix與FS2共同合作開發FPGAView軟體 (2007.09.03)
測試、量測和監控儀器廠商Tektronix,以及MIPS科技公司旗下的事業部First Silicon Solutions(FS2),宣佈推出FPGAView軟體,此軟體可針對最近推出之Tektronix MSO4000系列混合訊號示波器的Altera與Xilinx FPGA裝置,進行設定與即時除錯
Tektronix、Altera和FS2合作FPGA即時除錯技術 (2005.11.25)
Tektronix、Altera和FS2合作FPGA即時除錯技術
Tektronix、Altera和FS2合作FPGA即時除錯技術 (2005.11.22)
Tektronix、Altera和First Silicon Solutions(FS2)發表FPGAView──FS2為Tektronix TLA邏輯分析儀提供的套裝軟體,可對Altera FPGA進行即時除錯。採用FPGAView,設計工程師能測量其Altera FPGA設計內部的訊號,不必重新編譯設計便可以選擇探測哪一組內部訊號
Tektronix、Altera及FS2通力合作 (2005.11.18)
Tektroni、Altera及First Silicon Solutions(FS2)16日發表FS2所發行的套裝軟體FPGAView,該軟體適用於Tektronix TLA邏輯分析儀,同時能進行Altera FPGAs即時除錯。利用FPGAView軟體,設計工程師能迅速且輕易量測Altera FPGA設計內的訊號,並可選擇欲進行探測的內部訊號群組,而無須重新編譯設計
太克開發Altera FPGA即時邏輯除錯解決方案 (2005.11.16)
太克(Tektronix)、Altera及First Silicon Solutions(FS2)發表 FS2 所發行的套裝軟體 FPGAView,該軟體適用於 Tektronix TLA 邏輯分析儀,同時能進行 Altera FPGAs 即時除錯。利用 FPGAView 軟體,設計工程師能迅速且輕易量測 Altera FPGA 設計內的訊號,並可選擇欲進行探測的內部訊號群組,而無須重新編譯設計
Tektronix增加TLA系列的記憶體容量 (2000.10.12)
太克科技(Tektronix)日前發表TLA邏輯分析儀系列使用的兩款新擷取模組和兩組軟體加強功能。新擷取模組加大了TLA700的記憶體容量。軟體加強功能則將TLA700和TLA600的時序速度加倍,並且提供標準化Windows 2000作業系統
Tektronix與Dragonfly Software合作 (2000.04.11)
Tektronix與協力開發廠商Dragonfly Software共同宣佈,Tektronix的TLA邏輯分析儀系列開始支援ARM9與ARM9E處理器,以及ARM嵌入式Trace Macrocell提供的追蹤埠功能。此一解決方案提供完善的工具組,協助設計團隊找出嵌入式硬體與軟體除錯過程中的疑難問題,支援ARM9與ARM9E的核心
Tektronix推出TLA7PG2可程式測試碼產生器模組 (2000.02.08)
太克科技(Tektronix)發表最新TLA7PG2可程式測試碼產生器模組(Programmable Pattern Generator Module),用來搭配TLA 700系列邏輯分析儀。TLA7PG2是具有循序控制的多通道可程式化pattern generator模組,可直接插入TLA 700,能夠產生數位激勵以模擬硬體設計和軟體程式測試上較少遇到的測試條件;TLA7PG2會利用模擬器的資料來激勵原型,進行更廣泛的分析


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