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Mentor Graphics最新Tessent ScanPro實現測試資料量壓縮效益 (2015.10.13)
Mentor Graphics公司（明導國際）推出新款 Tessent ScanPro 產品，該產品採用的技術可以顯著減少使用Tessent TestKompress ATPG 壓縮方案的測試資料量。由於測試資料量很大程度上決定了測試積體電路（IC）的成本和時間，因此Tessent ScanPro 產品可幫助晶片製造商以更快、更具成本效益的方式交付他們的產品 |
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＜CES＞NVIDIA宣布CES記者會提供網路現場直播 (2012.01.10)
NVIDIA日前宣布將於2012年1月9日在2012國際消費電子展（CES）舉行記者會。記者會也將同步於網路直播。
此活動將於太平洋時間下午4點、美東時間下午8點（台灣時間1月10日上午8時）假美國拉斯維加斯的Venetian飯店舉行 |
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iPad帶領平板電腦產業走向泡沫？ (2010.07.14)
iPad帶領平板電腦產業走向泡沫？ |
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全球首架太空戰機X-37B (2010.04.08)
美國空軍將在美東時間4/19晚上10點，發射波音X-37B無人太空載具進入地球軌道飛行，這也可能是全球首架太空戰機。X-37B機身長8.8公尺，翼展4.5公尺，高2.9公尺，重5噸，最高時速25倍音速，大小約太空梭的1/4 |
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EMC宣布取得Data Domain絕對多數股權 (2009.07.22)
EMC公司宣佈EMC已購得Data Domain的多數股權。一旦EMC完成Data Domain的收購程序（預計7月底），將以Data Domain的業務為基礎建立一個新的產品部門，隸屬於EMC儲存事業部，專注於新一代磁片備份、復原和歸檔解決方案的研發 |
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-Edt Text Editor edt_1.7 (2008.06.10)
Simple text editor emulates VAX VNS Edt. Uses numeric key-pad for
common editing functions. Easy to learn, efficient, enables rapid
editing. Multiple buffers. Handles large files. Light-weight. |
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-WoW Itemstats Extended Edition Itemstats Ext. Edt. 2.0.5 (2008.03.12)
Itemstats Extended Edition adds [item][/item] and [itemicon][/itemicon] Tags for your system.
Manuals available for EQDKP, wbb2, phpBB, vBulletin and PHPKit |
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-WoW Itemstats Extended Edition Itemstats Ext. Edt. 2.0.0 (2006.10.17)
Itemstats Extended Edition adds [item][/item] and [itemicon][/itemicon] Tags for your system.
Manuals available for EQDKP, wbb2, phpBB, vBulletin and PHPKit |
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TI與Altera聯手舉辦網路研討會 (2006.04.11)
德州儀器(TI)宣佈將與Altera及EE Times合作舉辦一場主題為「提供您所需的低成本PCI Express x1解決方案」(Delivering Low-Cost PCI Express x1 Solutions for Your Needs)的網路研討會，這場研討會將於美國PDT/Noon EDT時間2006年4月11日上午九點開始廣播，它將介紹x1低成本PCI Express的優點以及說明如何克服高速PCI Express系統發展的挑戰 |
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-Eclipse Eiffel Development Tools (EDT) Version 0.1.0 (2005.07.22)
The Eclipe Eiffel Development Tools (EDT) are a set of plugins which eventually implement a full-fledged, highly integrated Eiffel development environment based on the Eclipse Platform. The EDT plugins contribute a number of |
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提高IC測試品質的設計策略 (2005.05.05)
奈米製程讓IC測試品質面臨許多新挑戰，本文將介紹各種可用以提高測試品質的可測試設計策略；例如利用可準確產生時脈週期之PLL來進行實速測試，以及全速式記憶體內建自我測試等 |
