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提升取樣率 為示波器訊號品質把關 (2020.02.11)
取樣是將輸入訊號轉換成離散電氣值，以進行處理或顯示的過程。示波器的取樣率越高，波形解析度也越高，並顯示出更清楚的細節。因此取樣率的品質，將可以很明顯代表出一部示波器的性能優劣
Tektronix與Dragonfly Software合作 (2000.04.11)
Tektronix與協力開發廠商Dragonfly Software共同宣佈，Tektronix的TLA邏輯分析儀系列開始支援ARM9與ARM9E處理器，以及ARM嵌入式Trace Macrocell提供的追蹤埠功能。此一解決方案提供完善的工具組，協助設計團隊找出嵌入式硬體與軟體除錯過程中的疑難問題，支援ARM9與ARM9E的核心
Tektronix推出TLA 700系列邏輯分析儀擴充主機 (2000.02.08)
太克科技(Tektronix)推出TLA7XM擴充主機，配合TLA 700系列邏輯分析儀使用，可處理與高階微處理器和嵌入式系統設計相關的複雜驗證挑戰。這種搭配提供的邏輯分析儀通道高達2176個，每個通道使用的記憶深度可達16 MB，足以讓設計工程師同時監測、偵錯及驗證包含多處理器與匯流排的電子系統，大幅提高生產力


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