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吉時利擴充4200-SCS半導體特性分析系統功能 (2010.03.09)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）近日宣佈，推出最新的4225-PMU Ultra Fast I-V模組，進一步擴充了4200-SCS半導體特性分析系統的功能選擇。在4200-SCS既有的強大測試環境中整合了超快速的電壓波形產生和電流/電壓測量功能 |
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吉時利儀器推出新款纜線解決方案 (2009.04.29)
美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments）近日推出首款纜線解決方案（cabling solution），利用一組申請專利中的纜線即可處理I-V、C-V或是脈衝I-V訊號。這款最新的纜線套件能夠加速並簡化從任何先進半導體參數分析儀連結到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探針台進行直流電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和脈衝I-V測試的過程 |
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KEITHLEY MODEL4200-SCS推出升級版 (2009.04.13)
美商吉時利儀器公司（Keithley）日前針對Model 4200-SCS半導體特性分析系統進行了全面的硬體、韌體和軟體升級，7.2版的Keithley Test Environment Interactive（KTEI）升級軟體包含了九種新的太陽能電池測試函式庫，針對系統電容-電壓（C-V）量測功能擴展的頻率範圍，支援吉時利最新的Model 4200-SCS九插槽機架 |
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KEITHLEY最新推出SOURCEMETER儀器平台 (2008.10.07)
新興量測方案廠商美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments）發表2600A System SourceMeter系列產品。新產品操作簡單，且具備卓越的量測效能及彈性，能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程 |
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KEITHLEY新推自動特性分析套件(ACS)測試系統 (2008.05.20)
量測方案廠商美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments）宣佈為其Automated Characterization Suite（ACS）自動特性分析套件軟體，加入選擇性的晶圓級可靠性（WLR）測試工具，可支援各種半導體可靠度與使用期預測等應用 |
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MIMO測試應用及Model 4200-CVU產品發表會 (2007.10.18)
吉時利儀器將再度發表最新、最強大的測量儀器。此次發表會，將分享的研發成果包括業界領先的MIMO測試應用，以及針對強大的Model 4200半導體特性分析系統平台發表的新款電容電壓量測儀器─Model 4200-CVU |
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Keithley發表6.1版互動式KTEI量測軟體 (2006.12.29)
吉時利(Keithley)儀器公司發表6.1版互動式KTEI量測軟體，適用於4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟體增強了吉時利4200-PIV的脈衝I-V能力，並顯著改進脈衝和DC測量的相關性 |
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美商吉時利儀器推出新款射頻測試儀器 (2006.02.23)
電子測試儀器廠商美商吉時利儀器公司，宣佈推出一系列創新的射頻測試儀器，這一系列儀器採用新的測試與量測方法，可節省顧客時間、心力與金錢。這些新產品可應用於設計、發展與製造過程，並且輔助目前在市場上已有的解決方案，包括電池模擬源、半導體特性分析系統以及電源電錶組 |
