04/02
TDR? VNA? 一個按鈕解決高速數位連接符合性驗證!
動輒5Gb/s(甚至10Gb/s)以上的高速數位時代已經來臨。這些高速資料傳輸技術雖大大提高了效能及帶來生活的便利,但也於信號完整性及相容性的設計與測試上帶來空前嚴峻的挑戰
活動時間:
2012年4月2日
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04/29
半導體C-V測試之提示, 竅門及量測陷阱
這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題,主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數,如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期
活動時間:
51分鐘48秒
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04/29
霍爾效應測量基礎
這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題,主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數,如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期
活動時間:
52分鐘56秒
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04/29
半導體電容-電壓測試基礎
這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題,主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數,如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期
活動時間:
40分鐘51秒
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04/02
標準畫質與高畫質 SDI 環境中的關鍵量測
The transition to digital video and from standard to high definition formats poses new technical challenges for television professionals. This presentation compares standard and high definition, gives examples of relevant measurements for each, and describes tools available in Tektronix products
活動時間:
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