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CTIMES / 振動測量
科技
典故		 電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。
ADI微機電加速度計實現結構缺陷的早期偵測 (2016.11.22)
亞德諾半導體（ADI）宣布一款三軸微機電（MEMS）加速度計，以極低雜訊進行高解析度振動測量，實現經由無線感測器網路的早期結構缺陷偵測。新的ADXL354和ADXL355加速度計的低功耗，延長了電池壽命，並藉由減少更換電池的時間以延長產品的使用

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