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CTIMES / 奈米機械測試儀
科技
典故		 從演化到多元整合──淺介Bus規格標準的變遷

一個想要滿足於不同市場需求的通用型Bus標準界面，能否在不斷升級傳輸速度及加大頻寬之外，達到速度、容量、品質等多元整合、提升效能為一體的願望？
安捷倫新奈米壓痕技術可對薄膜材料進行基板量測 (2010.12.06)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，推出Agilent G200奈米壓痕測試儀平台專用的創新奈米壓痕技術。其賦予研究人員利用該技術，可快速、容易且對薄膜材料進行基板獨立量測

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