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CTIMES / Probe Card
科技
典故
只有互助合作才能雙贏——從USB2.0沿革談起

USB的沿革歷史充滿曲折,其中各大廠商從本位主義的相互對抗,到嘗盡深刻教訓後的Wintel合作,能否給予後進有意「彼可取而代之」者一些深思與反省?
積體化探針卡技術介紹 (2004.08.04)
探針卡是應用在積體電路尚未封裝前,對裸晶以探針做功能測試,篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。本文將針對探針卡進行簡要的說明,闡述探針卡技術發展趨勢、全球/台灣探針卡產業現況,並說明目前Epoxy ring probe card、MicroSpring probe card所面對之技術瓶頸,及介紹積體化探針卡目前發展現況並與現有技術作一比較分析

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