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凌華科技法人暨媒體座談會 (2008.02.22)
凌華科技將舉行96年度第四季法人座談會。透過此次座談會，凌華科技將說明96年度第四季財報資料，以及97年度第一季營運展望等重要訊息，使各位投資人更了解凌華創新科技轉動世界之願景，即時掌握成長的脈動 |
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Tektronix發表新款波形及向量光柵監視器 (2008.02.22)
Tektronix發表高價值的新款波形及向量光柵監視器。WFM4000、WFM5000波形監視器，及WVR4000、WVR5000向量光柵監視器，可有效監測視訊及音訊內容。這組全新的裝置，可讓編輯與操作人員，快速地從多個信號源中驗證並調整視訊及音訊內容 |
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初芝電子滿足全方位LED與Light Bar量測需求 (2008.02.21)
有鑒於CCD測量設備對於不同配光曲線的LED會呈現高誤差量測結果，初芝電子與羽澤光電共同開發，可同時對961顆LED進行測量的高精度LB7000系列LED Light Bar Tester，協助各領域業者滿足其客戶對於LED日漸嚴苛的品質要求 |
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NI發表USB高速示波器與多功能數位電表 (2008.02.20)
NI近日發表NI USB-5132/5133高速示波器與NI USB-4065 6位半多功能數位電表（DMM）。此輕巧精緻的儀器，具有匯流排供電與隨插即用的功能，適用於可攜式、桌上型，與OEM的應用 |
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安捷倫推出VXA向量信號分析儀量測應用軟體 (2008.02.20)
安捷倫科技（Agilent）推出旗下X系列信號分析儀用的VXA向量信號分析儀量測應用軟體。這款VXA為設計、設計驗證與製造測試工程師提供完備且具彈性的量測工具組，在測試機架上就能執行完整的向量信號分析 |
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凌華科技發表新款3U PXI嵌入式控制器系列 (2008.02.20)
資料擷取與PXI平台產品供應商－凌華科技宣佈旗下最新3U PXI嵌入式控制器PXI-3900系列推出兩項新產品－PXI-3920與PXI-3910，用於混合型測試系統，提供各種介面控制或整合不同的獨立儀器，包括LXI、GPIB、USB、與serial介面 |
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安捷倫推出脈衝函數任意波形雜訊產生器 (2008.02.20)
安捷倫科技（Agilent）新近推出業界第一部脈衝函數任意波形雜訊產生器，不僅能提供超優的信號品質，且能產生各式各樣的波形，最適合用以執行一般的桌上型測試或先進的序列資料壓力測試（stress test） |
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提供關鍵數位RF頻譜時域量測分析技術 (2008.02.19)
類比數位訊號轉換的數位RF量測作業越來越複雜，工程師通常需運用如脈衝、跳頻和適應性調變等精密RF技術的組合。這些RF訊號的複雜性，也隨著各類具備無線通訊功能設備的普及性而越來越廣，對於量測工程師來說，數位RF訊號測試並提升數位 RF訊號品質，已面臨一系列新的設計挑戰 |
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CSR實現整合藍牙與GPS的單晶片方案 (2008.02.18)
CSR宣佈已成功整合GPS和行動電話網路量測技術，建立強化GPS技術(enhanced Global Positioning System; eGPS)，將能在所有環境提供精確的定位資訊服務。CSR已巴塞隆納Mobile World Congress (MWC 08)展示eGPS的效能及技術 |
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R&S DVM系列數位影像量測系統榮獲艾美獎 (2008.02.18)
今年一月份在LAS VEGAS舉辦的消費電子展示會上，第59屆年度技術&工程艾美獎頒獎典禮隆重頒發各個獎項。羅德史瓦茲公司(Rohde & Schwarz,R&S）獲得美國NATAS（The American National Academy of Television Arts & Sciences）機構頒發技術和工程艾美獎 |
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R&S新款可攜式寬頻接收儀 讓天空電波無所遁形 (2008.02.18)
羅德史瓦茲（Rohde & Schwarz,R&S）推出新型R&S PR100，是目前市場上專為無線電通訊監測和方向探測用途所設計的行動接收儀，以經濟的價位提供高效能及高行動性的特色，是監測任務中不可或缺的利器 |
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點亮LED產業遠景 (2008.02.18)
LED產業在台灣已發展多年，近年產值更是年年創新高，深具兆元產業潛力，但目前LED產業發展未能擺脫低價量大的策略競爭，期望透過政府整體資源的規劃，整合產學研的研發能量，共同突破產業瓶頸，加速產業往高附加價值發展，點亮台灣LED產業美好未來 |
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安捷倫推出小型微波類比信號產生器 (2008.02.14)
安捷倫科技（Agilent）發表一款持有成本較低的小型微波類比信號產生器，它是廣受歡迎的Agilent MXG信號產生器平台的延伸版本，可提供20、32或40 GHz的頻率範圍。這款信號產生器具備頻率切換速度快、可靠度高及容易自行維護等優點，可協助研發與製造寬頻元件和系統的工程師進行各種寬頻量測 |
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安捷倫發表新款寬頻帶同軸固態PIN二極體切換器 (2008.02.14)
安捷倫科技（Agilent）發表一系列新款同軸固態PIN二極體切換器–包括單刀雙擲（SPDT）、單刀四擲（SP4T）和傳輸切換器–其100 MHz到18 GHz的寬廣操作頻率範圍，可為自動化測試設備（ATE）系統提供快速又準確的測試 |
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Tektronix產品獲電裝株式會社選用 (2008.02.13)
Tektronix宣佈，日本電裝株式會社（Denso），採用Tektronix DPO7000系列示波器與TDP1000高電壓差動探棒，成功分析電子控制單元（Electronic Control Units，ECU）引擎控制的奈秒暫態雜訊尖峰訊號 |
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KEITHLEY推出ACS 3.2版自動特性分析套件軟體 (2008.02.13)
美商吉時利儀器（Keithley Instruments）宣布推出3.2版的ACS（Automated Characterization Suite）軟體，支援半導體元件測試，以及元件、晶圓、晶舟層級特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了強大的多部位並行測試（multi-site parallel test）能力 |
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安捷倫手持式RF頻譜分析儀獲EDN創新獎提名 (2008.02.13)
安捷倫科技（Agilent）宣佈旗下首款手持式RF頻譜分析儀Agilent N9340A榮獲2007 EDN China創新獎的最佳測試與量測產品。EDN China創新獎源自於EDN創新獎，是一個備受中國微電子領域關注的重要獎項 |
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安捷倫科技示波器新品發表會 (2008.02.13)
隨著嵌入式設計愈來愈普及，較大的顯示器對於必須在同一個螢幕上查看多種混合信號的工程師來說變得更加重要。對高速數位設計工程師而言，設計的邊限不斷地縮小，因此他們需要擁有優異的信號完整性與深度記憶體的示波器來進行深入的分析 |
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KLA-Tencor為Aleris薄膜量測系列增添兩款新品 (2008.02.12)
KLA-Tencor公司宣布推出Aleris 8310和Aleris 8350，為Aleris薄膜量測系列增添兩款新品。這兩款新機台採用KLA-Tencor最新一代的寬頻光譜橢圓偏光法（BBSE，Broadband Spectroscopic Ellipsometry）光學元件，讓晶片製造商得以測量多層薄膜的厚度、折射率與應力，滿足先進製程的薄膜度量要求 |
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NI發表首款PXI SMU與高密度PXI切換器 (2008.02.12)
美商國家儀器（NI）發表首款PXI電源量測單位（SMU），與高密度的PXI切換器。這些產品可提升精確DC應用中的PXI平台效能，如半導體參數測試，與電子裝置的檢驗作業。與傳統儀器相較，工程師可搭配使用這些低價位的小型模組，於高針腳數裝置中進行電壓與電流參數的精確特性記述（characterize）作業 |
