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自動測試設備系統中的元件電源設計 (2024.07.26)
本文敘述為自動測試設備（ATE）系統中的元件電源（DPS） IC選型指南，能夠協助客戶針對其ATE系統的實際要求選擇合適的DPS IC，並滿足ATE系統輸出電流、熱要求的系統級最佳化架構 |
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筑波與泰瑞達攜手ETS 打造化合物半導體動態測試方案 (2023.09.01)
筑波科技(ACE Solution)與美商泰瑞達(Teradyne)攜手合作推出ETS GaN Mos、Power Module、IGBT測試整合方案。半導體功能測試（FT）向來需要克服各種挑戰，包括複雜的案例設計、執行和系統維護、數據分析管理，以及對測試環境穩定性的高度要求 |
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光電系統測試的運動掃描和數據收集方法 (2023.07.12)
使用自動運動系統執行掃描測試可以得到許多感測器的性能數據，可用於開發和生產測試。本文探討可用於量測光電感測器性能的不同掃描模式和方法。 |
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提升影像動態測試效能 宜特獲官方授權VESA ClearMR認證中心 (2023.03.13)
電競產業引領風潮，宜特訊號測試實驗室近期取得視訊電子標準協會（Video Electronics Standards Association；VESA） 認可，正式成為ClearMR認證中心（ATC），將可提供客戶相關技術研討與測試服務，使其產品符合技術規範，取得認證標章 |
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R&S攜手AVL開發解決方案 支持模擬真實駕駛條件自動測試 (2023.01.03)
AVL和羅德史瓦茲合作，在實際駕駛條件下實現更快的自動化EMC測試電動汽車包含許多電子元件，它們會發出射頻干擾，可能會對車輛性能和駕駛體驗產生負面影響。
為了簡化並加快開發過程 |
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HOLTEK新推出內置驅動器Touch MCU—BS82C16CA/BS82D20CA (2022.08.29)
盛群半導體（Holtek）新推出BS82C16CA及BS82D20CA產品系列，本系列進一步提升抗干擾特性，同時提供更豐富的系統資源，封裝接腳與BS82C16A-3/BS82D20A-3相容，適合需求LCD/LED顯示的觸控應用，如電磁爐、微波爐、電暖桌等 |
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考量缺陷可能性，將車用IC DPPM降至零 (2022.07.14)
為了車用IC符合ISO 26262國際安全規範中DPPM目標，在選擇應用模式類型和設置覆蓋率目標時，最先進的方法是透過檢測到的故障或缺陷數量除以故障或缺陷的總數，得出測試覆蓋率，進而選擇模式 |
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PI推出三相BLDC驅動軟體 將與Motor-Expert Suite搭售 (2022.06.24)
Power Integrations推出了用於三相 BLDC馬達驅動的全新控制軟體。透過結合 Power Integrations 的 BridgeSwitch 整合半橋式馬達驅動器和易於使用的 Motor-Expert 配置和診斷工具，這種完整的硬體-軟體解決方案可實現 98.2% 的效率，將電路板空間減少 70% 以上，並且電流回授電路只需要三個元件，而在分離式解決方案中需要 30 個元件 |
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中央大學攜手是德 建立第三代半導體研發暨測試開放實驗室 (2021.09.28)
是德科技（Keysight）攜手國立中央大學光電科學研究中心（National Central University Optical Sciences Center），共同合作提高了GaN、SiC應用研發及測試驗證之效率，並加速5G基建及電動車創新之步伐 |
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HOLTEK新推出高抗干擾A/D Touch MCU--BS84B04C (2021.08.26)
盛群(Holtek) Enhanced Touch A/D Flash MCU系列新增BS84B04C，延續BS84xxxC系列的抗干擾特性，8/10-pin封裝與BS83x04C相容。提供比BS83x04C更豐富的系統資源，並支援16-pin WLCSP小型封裝，可提供客戶升級的選擇 |
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考量缺陷可能性 將車用IC DPPM降至零 (2021.07.12)
為了滿足現今車用對於DPPM的要求，半導體廠商合作開發出的新方法，能夠根據發生實體缺陷的可能性進行模式價值評估，並依模式計算與故障相關的總關鍵面積（TCA）。 |
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HOLTEK推出BS83A04C低功耗的Enhanced Touch MCU (2020.05.20)
Holtek新一代高抗干擾能力Enhanced Touch I/O Flash MCU系列，新增系列成員BS83A04C，特別訴求低功耗特性，適合應用於需求低功耗的產品、各項家電及消費性產品，如藍芽耳機、移動電源、智能手環、飲水機、空氣清淨機、廚房秤等觸控按鍵應用 |
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HOLTEK推出BS83A01C高抗干擾能力的I/O Touch MCU (2019.11.04)
Holtek新一代具高抗干擾能力的I/O Flash Touch MCU系列新增型號BS83A01C，內含可通過CS(Conductive Susceptibility)10V動態測試的單觸摸鍵和可多次編程的Flash，工作電壓範圍1.8V~5.5V，本型號高度集成內建HIRC與LIRC無須額外的外部元件，應用中可動態切換內振頻率優化反應速度及降低功耗，最多4個可彈性應用之I/O， 封裝提供薄型6DFN(2x2x0.35mm)、SOT23-6及8SOP |
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HOLTEK推出高抗干擾能力的Enhanced Touch A/D Flash MCU BS66F340C及BS66F350C (2019.11.01)
Holtek推出Enhanced Touch A/D Flash MCU系列最新成員BS66F340C及BS66F350C，提供最多20個具高抗干擾能力觸摸鍵，內建最新Enhanced Touch Key Engine，增強Touch Key演算法執行效率，程式空間及系統資源充裕，適用於需求多觸摸鍵、溫度偵測及帶LED顯示產品使用，例如電陶爐桌、料理機、電飯煲等 |
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HOLTEK推出BS66F360C高抗干擾能力的Enhanced Touch A/D MCU (2019.11.01)
Holtek全新推出Enhanced Touch A/D Flash MCU系列最新成員BS66F360C，具備28個具高抗干擾能力觸摸鍵，內建最新Enhanced Touch Key Engine，增強Touch Key演算法執行效率，程式空間及系統資源充裕，適用於需求多觸摸鍵、溫度偵測及帶LED顯示的產品使用，如電暖桌、料理機、電飯煲等 |
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HOLTEK推出BS67F350C高抗干擾能力的Enhanced Touch A/D LCD MCU (2019.09.04)
Holtek新一代具高抗干擾能力Enhanced Touch A/D LCD Flash MCU系列推出新型號BS67F350C，提供24個具高抗干擾能力的觸摸鍵，內建最新的Enhanced Touch Key Engine，強化Touch Key演算法的執行效率；充足的程式空間及豐富的系統資源，特別適合功能複雜並需求多觸摸鍵、溫度偵測及帶LCD顯示，如溫控器、微波爐、電飯鍋、除濕機等之產品應用 |
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是德科技宣布推出具雙脈衝測試功能的動態功率元件分析儀 (2019.05.14)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）宣布推出搭載雙脈衝測試儀的新型動態功率元件分析儀（PD1500A），以提供可靠且可重複的寬能隙（WBG）半導體量測方式，並確保量測硬體與專業測試人員的安全 |
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HOLTEK新推出BS86DH12C高抗干擾能力的高壓A/D Touch MCU (2018.12.05)
Holtek新推出高壓A/D type Flash Touch MCU BS86DH12C，內建9V高壓電路整合LDO及HVIO使PCB上零件更精簡，具有極佳之性價比。
此外還提供12個具高抗干擾能力的觸摸鍵，並加強LED驅動電流及豐富系統資源，可用極少的零件實現帶觸摸鍵、溫度偵測的產品，例如料理機、豆漿機、電飯煲等，適合各種觸摸鍵帶LED顯示的產品使用 |
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HOLTEK新推出BS86D20C高抗干擾能力的A/D Touch Flash MCU (2018.12.05)
Holtek新一代具高抗干擾能力的A/D Type Touch Flash MCU系列新增型號BS86D20C，新型號提供最多20個具高抗干擾能力的觸摸鍵，同時加強LED驅動電流，並提供豐富的系統資源，特別適合需求較多觸摸鍵、溫度偵測及帶LED顯示的產品使用，例如電壓力鍋、料理機、電飯煲等及各帶LED顯示的家電使用 |
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HOLTEK新推出BS83A02C高抗干扰能力的I/O Touch MCU (2018.12.05)
Holtek新一代具高抗干擾能力的I/O Type Touch Flash MCU系列新增型號BS83A02C，本型號特別提供薄型的6DFN封裝，厚度僅有0.35mm，特別適合要求體積小、厚度薄的應用，如智慧卡、智能手環、電子門鎖等 |
