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安捷倫科技贏得EuroAsia 2007 IC工業大獎 (2007.08.06)
安捷倫科技（Agilent Technologies）日前宣佈，該公司的Agilent B1500A半導體元件分析儀獲頒EuroAsia 2007 IC Industry Award的Best Final Manufacturing Technology工具獎。EuroAsia Semiconductor雜誌贊助發起EuroAsia IC工業大獎的目的是為了表彰在IC製造上有傑出表現者，由業界同僚以投票的方式選出得獎者，並於7月18日在舊金山公開頒獎 |
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安捷倫科技推出4080系列新款參數測試平台 (2007.04.24)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）發表專為解決半導體製造與研究環境工程人員之評估需求而設計的新一代參數測試平台。Agilent 4080系列以前所未見的效能，涵蓋完整範圍之量測需求 - 從主流製程到45奈米以上的先進製程 |
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安捷倫與CWS合作提供完整可靠度測試解決方案 (2007.02.27)
安捷倫科技（Agilent）日前宣佈與專為半導體測試市場提供加速和長期可靠度測試解決方案及分析工具廠商Core Wafer Systems（CWS）達成一項協議。CWS的ASUR（Advanced Scaleable Unified Reliability；先進可擴充統一可靠度）解決方案套件獨家採用安捷倫的系統測試儀器，組成單器件可靠度（SDR）和多址平行器件可靠度（PDR）測試產品 |
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安捷倫參數測試解決方案獲茂德科技選用 (2005.05.25)
安捷倫科技（Agilent Technologies）日前宣佈，茂德科技中科12吋晶圓廠選中安捷倫4072B參數測試解決方案，以測試其高效能的標準型DRAM產品，原因是這套測試系統不論在速度和性能上皆大幅領先它廠 |
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安捷倫半導體元件分析儀可整合CV及IV量測能力 (2005.04.29)
安捷倫科技（Agilent Technologies）推出一套Windows架構的半導體元件分析儀，可將電容相對於電壓（CV）及電流相對於電壓（IV）等兩種量測能力整合到單一儀器中，不僅有助於節省半導體測試時間，同時還能提高生產力 |
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安捷倫推出兩款DC/RF/Pulse參數測試系統 (2005.03.16)
安捷倫科技（Agilent Technologies）新近推出Agilent 4075及4076 DC/RF/Pulse參數測試系統，可量測65 nm等先進製程技術所製造之元件的特性。Agilent 4075及4076可讓半導體測試工程師量測RF和DC的特性 |
