Clif
(不在線上)
nbsp;
來自: 台灣
文章:
42
|
發 表 於:
2007.08.22 11:35:14 AM
文章主題:
Re: 多核心晶片就有多用途,設計時不妨多用新觀念,或是以應用來帶動設計模式.
這樣的多核心設計架構應用在消費電子領域,如何降低晶片設計後投產的失敗率?亦即如何降低NRE〈Non-Recurring Engineering〉?如何縮短設計驗證除錯調校的TAT〈Turn Around Time〉過程?在提高EDA工具互通性的功能上有沒有特殊的地方?就教於各位大大........ |