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安捷伦推出全新18-GHz差动式TDR探棒套件 (2009.06.12)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）发表一款可执行差动时域反射（TDR, Time-Domain Reflectometry）和时域转态（TDT, Time-Domain Transition）量测的新探棒套件。从事信号完整性测试相关工作的工程师，在设计与验证高速串行链路(high-speed serial links)和组件时，通常都必须执行TDR/TDT分析 |
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安捷伦与Hynix合推内存验证的长线ZIF探针头 (2009.02.10)
安捷伦科技（Agilent）宣布与Hynix半导体合作生产一款为DDR和GDDR SDRAM验证而优化的高带宽、高效能长线ZIF（zero insertion force；零插力）探针头。该长线ZIF探针头可让工程师在探量距离较远的信号时，能准确地量测高速信号 |
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