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筑波为高速数位传输介面整合测试提升效益 (2023.04.28)
2023全球资通讯发达、影音应用新兴生态崛起，频宽需求殷切，高速数位输介面因应倍增数据传输交换应用更加广泛，筑波科技近期举办「高速数位传输介面测试方案」研讨会，为客户提供先进的高速数位介面测试整合方案 |
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行动通讯与高速介面双主题同步 安立知年度盛会引领通讯量测技术潮流 (2023.03.23)
Anritsu 安立知年度技术论坛「Anritsu Tech Forum 2023」首度聚焦「行动通讯」与「高速介面」双主题，结合了丰富精彩的专题演说内容，以及多款最新测试量测仪器与应用的展示，让现场超过 500 位与会的产业菁英满载而归 |
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台北光电周--致茂展示多元光学测试解决方案 (2017.06.06)
台北光电周--致茂展示多元光学测试解决方案
精密电子量测仪器厂商致茂电子将于6月台北国际光电大展，展出最新雷射二极体测试、视频与色彩测试与太阳光电自动光学测试解决方案 |
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Tektronix推出高灵敏度、低杂讯的新款光学模组 (2017.03.29)
Tektronix(太克科技)为其DSA8300取样示波器推出全新的光学模组。此模组具有高的遮蔽测试灵敏度和最低的杂讯，并配备了全新功能，可提升生产能力并改善当前100G设计投入生产的产量 |
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Tektronix展示为资料中心网路开发的最新光学测试创新技术 (2017.03.17)
Tektronix在OFC 2017上将展示100G、400G标准光学量测技术的最新发展，以及支援多OMA系统的光学调变分析软体的端对端示范?
全球量测解决方案供应商Tektronix(太克科技)将在OFC 2017上展示为资料中心网路所开发的最新光学通讯测试技术，OFC 2017是专为全球光学通讯和网路专业人士所举办的研讨会 |
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Agilent J-BERT让高速数字量测难题一次解决 (2014.01.23)
由于手机、平板等装置的数据传输量越来越庞大，尽管带动了伺服端设备的成长，但同时也带来了更多测试的挑战。高速数字传输的环境变得比过去更加复杂，传输速度要变得更快、传输效能要提高、且还要克服比过去更多的干扰讯号 |
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银奈米线替代ITO技术剖析 (2013.11.26)
新式触控应用让ITO技术面临挑战，让银奈米线找到极佳的市场切入点，
本文将深入比较两项技术的优缺点，以及可挠式应用上的新市场需求。 |
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LED照明验证检测标准与时俱进的服务领航者 (2009.11.12)
李志明表示：在LED量测和安全标准领域，台湾德国莱因愿意扮演更为积极的角色。长期来看，国际性的LED照明标准应会朝向不断相互整合的趋势前进。台湾在自立发展制订LED照明标准的同时，可更为全面地融入国际标准 |
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安捷伦于OFC/NFOEC 2009展示光学测试解决方案 (2009.04.16)
安捷伦科技（Agilent）于OFC/NFOEC中展示首款适用于40到100G装置测试的光学调变分析仪、具PON滤波器速率的PXIT 10G DCA、独特的智能型后处理技术、以及可对光学组件和信号进行特性描述与分析的光通讯应用软件套件 |
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安捷伦发表首款基于时域的光学调变分析仪 (2009.03.24)
安捷伦科技（Agilent）发表首款基于时域的光学调变分析仪，其可深入分析经振幅与相位调变的光学信号。此款光学测试仪器，是与安捷伦实验室Agilent Labs共同开发而成。这是一款结合大带宽、多偏振相干光接收器技术、Agilent 89600向量信号分析软件（VSA）、以及安捷伦高速实时数据搜集设备Infiniium 90000系列示波器为基础的测试仪器 |
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光电周LED展区 致茂盛大展出全系列LED测试 (2008.06.11)
国内量测仪器大厂致茂电子在今年光电周LED展区，针对当今最热门的LED产业推出全系列的制程测试解决方案。由于LED具备轻巧、节能、环保、耐用、高亮度等多种优异特性下，逐渐在各个产业的应用上崭露头角 |
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综观CMOS影像感测器技术特性 (2006.01.25)
传统的CCD（电荷耦合元件）影像感测器技术已经无法满足目前工业与专业摄影影像撷取之需求。业界以标准CMOS技术为基础，开发出创新的区域感测器替代方案，这类CMOS元件具有极佳的弹性、优异的静态与动态特性，以及易于与所有系统环境整合的功能，医疗电子就是最典型的创新应用 |
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德国莱因专业验证 CeBIT秀展服务不打烊 (2005.03.07)
全球规模最大的信息暨通讯大展CeBIT即将于3/10~3/16于德国汉诺威盛大登场。为了提供实时的信息，德国莱因集团将于第6会场H09摊位，提供环球验证、人体工学、产品寿命测试、品牌保护、TUVdotCOM整合性互动服务、WEEE & RoHS、光学测试、GS标示、VoIP声音质量测试 |
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Tektronix将参加台北光电展及国际电信网络展 (2002.07.11)
Tektronix (太克科技)将参加台北世贸中心举办的2002 年台北光电展(8月15日至18日)及国际电信网络展(8月23日至26日)，展出全系列通讯及光电设备测试量测仪器。Tektronix表示，该公司除了拥有坚强的通讯与光电测试仪器，更于近日并购了光组件测试与量测科技领导者 德国Profile 公司 |
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Tektronix迈入光学组件及DWDM物理层测试 (2002.05.09)
Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品，它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率，及高生产率之新效能测试 |
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太克量测应用展将于4月26日登场 (2002.03.15)
Tektronix台湾分公司太克科技即将于4月26日（星期五）假台北国际会议中心举办一年一度的『太克2002量测应用展暨技术研讨会』，分享这一年来测试与量测技术研发成果。「太克科技量测应用展」是专为台湾客户筹划的年度技术应用交流大会，适合从事于计算机、通讯及消费性电子等领域的研发、设计、维护及制造工程人员参与 |
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Tektronix光学通讯测试技术再获美国专利 (2002.02.06)
太克科技(Tektronix)近日宣布其数字相位分析（Digital Phase Analysis，简称DPA）技术获得美国的专利。这是一套创新的、领先业界的抖动分析法，可用于光学通讯网络的测试。当拨打电话时，抖动常会造成消费者无法拨通电话或不良的通话服务质量 |
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太克发表新型数字量测方法转换光学抖动分析 (2002.02.05)
Tektronix(太克科技)近日发表突破性的光学抖动量测仪器，可以协助设备制造商加速用于核心量测网络的10 Gb/s SONET/SDH设备的设计与生产速度。新的Tektronix OTS9200 抖动分析模块，是全球首套全数字化光学抖动量测工具，内建于Tektronix专利数字相位分析（Digital Phase Analysis，简称DPA）技术上 |
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太克科技2002总目录登场 (2001.12.07)
太克科技(Tektronix)新发行的「Tektronix 2002 测试、量测，与监视产品目录」已正式登场。Tektronix 2002目录包含广泛，有应用于设计、建置、部署和管理全球通讯网络，及进阶因特网科技等超过1,400种的测试、量测，与监视产品 |
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太克推出高效能掌上型光学测试器 (2000.09.05)
太克科技(Tektronix)宣布推出完整的掌上型(迷你型)光时域反射器(optical time domain reflectometer, OTDR)、光功率表模块及容纳新模块的控制与显示平台NetTek分析仪产品系列。太克表示，该9款新的OTDR模块将可以协助光纤网络提供者和交换业者(Inter-Exchange Carriers, IXCs)只需投资及维护少数的仪器类型，就能够完成许多不同的量测工作 |
