Tektronix(太克科技)日前发表光学测试系统物理层量测应用之新系列产品，它为密集波长分割多任务 (DWDM) 组件及网络组件的光学设备制造商设定高准确度、高分辨率，及高生产率之新效能测试。Tektronix OTS9600 系列的光学测试模块，是Tektronix光学测试系统 (Optical Test System，OTS) 产品系列的新产品类别。这是一套扫描波长量测系统，特别用来处理被动光学组件之物理层测试。OTS9600 系列透过其领先业界的分辨率、毫奈米pm (picometer) 层准确度，及高动态范围之技术，让各公司能在光学研究、开发，及制造上有突破性的进展。它优化测试时间，并确保制造商生产光学产品时的设备质量，有效地在节省成本的情况下，增加网络带宽，让光纤容量达到最大值。

OTS9600 系列的光学测试模块

采用Tektronix正在申请专利中的波长参考技术，扫描波长系统会在每次量测前自动更正，以免除每次测试的手动校正及缩短量测时间。OTS9600 系列为能更进一步地优化测试时间及确保产品质量，它提供小于一毫奈米(1 picometer) 准确性及波长分辨率，且其量测时间仅需6.5秒，提供现有的各种效能层级的结合。新增由8至88 个信道的扩充性和一个强韧网络/程序设计的环境；此外，OTS9600 系列更可完美的增加制造产能及提升产品质量。

OTS9600 系列产品亦提供一组新的可调式雷射光源，这是许多不同光学测试应用所需之高性能光学激发。雷射光源不需模式跳跃 (mode-hop)，快调速度及模块化的精简套件为其特色。OTS9600系列的八信道功率计，是一个快速及高度线性的光学功率计；它具备领先业界供制造现场及网络作业监控功率的强度，因而能提供广域的动态范围及八信道的CPCI 模块。