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浅谈USB规格与认证要点 (2005.04.01)
USB是否会像放大镜或罗盘一样对人类造成长久深远的影响？自从1990年代中期出现以来，该标准已获得广泛的采用，但究竟是什么原因让USB如此强大？最简单的答案就是标准，其中又以USB规格最重要 |
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锱铢必较－奈米设计建构上的需求 (2003.04.05)
奈米等级的IC设计不但所需技术愈趋复杂化，设计的过程中可能遇到的问题也随着制程的微小化而增加；本文将分析进行奈米级IC设计时，工程师应掌握的关键议题与必须面临的挑战，并指出目前的技术可克服的瓶颈与未来趋势的发展 |
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新思与Virtual Silicon和Silicon Metrics合作 (2002.03.11)
新思科技（Synopsys Inc.），11日与Virtual Silicon科技及Silicon Metrics公司共同宣布，为PrimeTime SI提供了Virtual Silicon 的eSi-Route标准技术技术组件数据库。这些技术技术组件数据库乃是利用Silicon Metrics的SiliconSmart CR工具进行参数萃取而组成，并且具备合格的条件，可以在无厂房设备的流程中，支持PrimeTime SI针对0 |
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新思和Silicon Metrics 共同开发单芯片系统内存特性分析解决方案 (2002.01.10)
新思科技及Silicon Metrics Corporation十日宣布推出其内存特性分析解决方案。这套方案是以新思科技的NanoSim作为多层级混合信号仿真器及Silicon Metrics的SiliconSmart MR作为开发基础，并且充分运用了 NanoSim的阶层式数组减化 (HAR) 技术及SiliconSmart MR的内存特性分析和塑模工具，可随时提供设计单芯片系统 (SoC) 所需的内存模型 |
