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CTIMES / 量测观点
科技
典故
Unix是怎么来的?

不管是IBM 的AIX、Sun 的Solaris、HP 的HP-UX、还是Linux等等,都是源自1969年AT&T贝尔实验室(Bell Labs)所开发出来的Unix,回顾这段历史,MULTICS(MULTiplexed Information and Computing Service)计划是重要的关键。。
R&S加入AI-RAN联盟 利用测量专业释放AI无线通讯领域潜力 (2024.07.09)
Rohde & Schwarz加入新近成立的AI-RAN联盟,将利用其在测试与测量(T&M)领域的专长,释放AI在无线通讯领域的潜力,为这一合作倡议贡献力量,旨在通过将人工智慧整合到无线通讯中,提升无线接入网路(RAN)性能和移动网路技术
是德科技与爱立信於2024年IEEE全球通讯大会上展示Pre-6G网路 (2024.07.08)
是德科技(Keysight )宣布和爱立信(Ericsson)合作,共同打造一个6G预标准(pre-standard)网路概念验证模型,并於2024年IEEE全球通讯大会中展出。双方於会中展示一款使用爱立信基地台和是德科技模拟使用者设备(UE)的6G协定堆叠原型
解读新一代汽车高速连接标准A-PHY (2024.07.04)
随着汽车行业的快速发展,车载通信技术也在不断进步。MIPI A-PHY作为一项新兴的连接标准,专为汽车应用设计的高速串列器-解串器(SerDes)实体层介面,正逐渐成为车载通信领域的明星技术
安立知与光宝科技合作验证5G O-RAN性能测试 (2024.07.01)
Anritsu 安立知与光宝科技 (LITEON) 共同宣布,双方针对 5G 新无线电 (New Radio;NR) 开放式无线接取网路 (Open Radio Access Network;O-RAN) 性能测试进行验证合作。安立知 MT8000A 无线通讯综合测试平台与 MX773000PC 分散式单元 (O-DU) 模拟器平台软体解决方案的整合,协助光宝科技进行无线电单元 (O-RU) 验证,携手推动 O-RAN 技术发展
韩国无线电促进协会成立安立知5G-Advanced & 6G测试实验室 (2024.06.28)
Anritsu 安立知宣布,继韩国无线电促进协会 (RAPA) 与 Anritsu 安立知签署合作备忘录 (MoU),确定双方在 5G-Advanced / 6G 方面的合作後,RAPA 已在其位於韩国仁川的松岛物联网技术支援中心 (Song-do IoT Technical Support Center) 建立了「Anritsu 安立知 5G-Advanced & 6G测试实验室」(Anritsu 5G-Advanced & 6G Test Lab)
R&S新款NPA系列紧凑型功率分析仪 满足所有功率测量需求 (2024.06.27)
现在有三种型号的Rohde & Schwarz功率分析仪可供选择,以满足对直流和交流源上的电压、电流、功率和总谐波失真的所有要求。R&S NPA101功率计提供所有基本测量,R&S NPA501功率分析仪增加了增强的测量功能和图形分析,而R&S NPA701符合测试仪器包括符合IEC 62301和EN 50564标准的功耗以及符合EN 61000-3-2标准的电磁相容谐波发射测试的评估功能
ETS-Lindgren与安立知合作推进NTN装置测试 (2024.06.26)
ETS-Lindgren 和 Anritsu 安立知宣布为使用窄频-非地面网路 (NB-NTN) 协议的装置提供测试支援。 此次合作结合了两家公司的优势,为 NB-NTN 装置的测试和验证提供全面的解决方案
安立知MWC 2024虚拟展正式上线 (2024.06.19)
Anritsu 安立知宣布,针对西班牙巴赛隆纳 (Barcelona) 举行的 2024 年世界行动通讯大会 (MWC) 所设置的虚拟展览,现已在 Anritsu 安立知虚拟展示厅 (Anritsu Virtual Showcase) 正式上线
是德科技加速布局AI、无线通讯与汽车创新三大领域 (2024.06.19)
近期AI应用从晶片硬体发展至云端服务。为加速AI/ML网路基础架构的设计和部署,是德科技推出更具扩展性、更整合的AI资料中心测试平台,协助AI/ML网路验证和最隹化,并推动AI技术发展
安立知联手Y.I.C提供EMC解决方案 瞄准航太、国防与医疗电子产业 (2024.06.17)
Anritsu 安立知与 Y.I.C. Technologies 合作开发创新工具,支援业界厂商预先执行电磁相容性 (EMC) 测量。Anritsu 安立知的新型 Field Master 频谱分析仪具有一流的扫描速度和连接介面,能与 Y.I.C EMScanners 和 EMViewer 应用软体相辅相成,提供完全整合的解决方案
R&S推出RT-ZISO隔离探针测量系统 用於快速切换信号精确测量 (2024.06.14)
R&S新推出了R&S RT-ZISO隔离式探针系统,丰富了尖端示波器产品线。这一新型R&S RT-ZISO系统专为在高共模电压和电流环境下实现快速切换信号的极高精度测量而设计。与此同时,还发布了搭配MMCX连接器的R&S RT-ZPMMCX被动探头,补充了隔离探针系统,在特定测量任务中发挥重要作用
R&S获USB-IF批准 可进行USB 3.2 Gen 1和Gen 2发射器与接收器一致性测试 (2024.06.11)
USB 实施论坛 (USB-IF) 批准了 Rohde & Schwarz 的 USB 3.2 Gen 1 和 Gen 2 发射器和接收器一致性测试解决方案,确认其符合标准化机构制定的严格要求。准备进行官方 USB-IF 认证的 USB 设备制造商可以完全信赖测试解决方案产生的测试结果的准确性和可靠性
平板POS系统外壳和基座影响无线连线效能的实测 (2024.05.29)
本文探讨平板POS系统的优势,以及所面临的安全性、稳定性和耐用性等问题。透过实测不同外壳和基座的材料和设计,可以得知其对於无线效能的影响,经由设计确保良好的无线连线效能
让6G主动创造新价值 提供通讯产业应用机会 (2024.05.28)
本场东西讲座邀请到台湾安立知业务与技术支援部协理薛伊良,分享从5G到6G的通讯产业发展脉络。
融合航太与无线生态 NTN打造下世代网路 (2024.05.28)
本场东西讲座邀请到台湾罗德史瓦兹应用工程部门经理陈震华,分享从5G到6G早期研究所需要了解的相关议题,以解决当前的各种技术挑战。
AI自动化测试确保智慧家电设备效能与品质稳定性 (2024.05.27)
智慧家电产品带来了许多便利,但也伴随着潜在的风险。例如操作流程中出现故障,或者可能存在手机应用程式相容性问题等,针对这些智慧家电设备进行AI自动化测试,可协助客户厂商确保其产品可靠性和稳定性,满足用户期??
Wi-Fi 7测试方兴未艾 量测软体扮演成功关键 (2024.05.26)
软体是协助工程师成功测试Wi-Fi 7和任何新无线标准的关键。 高效能解决方案可简化测试和评估流程,进而确保无线装置符合法规要求。 利用量测软体,工程师可分析、测试并解决无线连接的棘手问题
爱德万测试发表V93000 EXA Scale SoC测试系统超高电流电源供应板卡 (2024.05.24)
爱德万测试 (Advantest) 宣布,旗下 V93000 EXA Scale SoC测试平台电源供应产品线再添生力军,最新DC Scale XHC32电源供应可提供32通道及前所未见地在单一板卡上提供高达640A总电流,有效率地满足人工智慧 (AI) 加速器、高效能运算 (HPC) 晶片、图形处理单元 (GPU) 及网路交换器、高阶应用处理器等其他高电流元件不断提高的电源需求
R&S获得NTN NB-IoT RF与RRM相容性测试案例TPAC认证 (2024.05.22)
在近期全球认证论坛(GCF)的第78次相容性协议组(CAG)会议上,Rohde & Schwarz确认了NTN窄频物联网(NB-IoT)的RF与RRM相容性测试案例,成功满足所有测试平台认证标准(TPAC)。R&S TS-RRM和R&S TS8980测试平台获得了所有类型NTN NB-IoT测试(包含RF、解调和RRM)的认可,使得R&S成为GCF中唯一启用NTN NB-IoT RF与无线资源管理(RRM)工作项目的企业
R&S推出精简示波器MXO 5C系列 频宽最高可达2GHz (2024.05.20)
R&S扩充了其产品线,推出了一款2U高度示波器/数位转换器, 以针对机架安装及对外形尺寸有严格要求的应用场景。新系列MXO 5C是该公司首台无显示萤幕的示波器,其性能与之前发布的MXO 5系列相同,但垂直高度仅为後者四分之一

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1 R&S展示蓝牙通道探测信号测量 以提高定位精度
2 固纬ASR系列旗舰机种问世 在大功率电源测试领域具备完整测试方案
3 是德通过3GPP第16版16/32个发射器效能增强特性测试案例验证
4 是德Chiplet PHY Designer可模拟支援UCIe标准之D2D至D2D实体层IP
5 R&S使用宽频无线通讯测试仪对Quectel的5G模组进行eCall互通性测试
6 是德科技400GE网路安全测试平台获用以验证超大规模DDoS防御功能
7 爱德万测试与Amarisoft针对5G/IoT元件测试进行合作
8 R&S推出专用於相位杂讯分析及高达50GHz压控振荡器量测的FSPN50
9 安立知强化支援GEO卫星NTN NB-IoT装置协议测试解决方案
10 爱德万测试即时资料基础设施平台 加速推动次世代半导体测试发展

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