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加速车用晶片设计时程 新思科技工具获ISO 26262认证 (2016.08.02)
广泛来看，诸多国际一线的半导体业者投入车用电子领域已有不短的时间，然而在市场开始推广功能性安全标准：ISO 26262后，不光是汽车与一线模组厂需要满足此一规范，近年来，我们可以看到不少一线车用半导体大厂，除了AEC-Q100视为解决方案的基本配备外，ISO 26262这个字眼，也开始出现在车用半导体的世界中 |
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Tektronix 推出MIPI Alliance M-PHY测试解决方案 (2012.03.20)
Tektronix(太克)昨日宣布，推出一套供 MIPI Alliance M-PHY 测试的完整自动化解决方案，提供业界最广泛和最完整涵盖的新兴标准。除进一步增加支持业界领先的 MIPI 标准外，Tektronix 并发布新的协议译码和分析解决方案，可在其示波器上执行的 M-PHY UniPro 和 LLI 协议 |
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可以帮助您校正您的LCD或CRT显示器,一系列颜色和伽玛调整,如:颜色,黑/白亮点和亮度设置...等。-Atrise Lutcurve 1.5.3 (2011.03.31)
可以帮助您校正您的LCD或CRT显示器,一系列颜色和伽玛调整,如:颜色,黑/白亮点和亮度设置...等。 |
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使您能够分析和测试质量和性能的PC显示器或液晶屏幕使用的工具(一系列25个测试模式)-MonitorTest 3.1.1000 (2010.09.08)
使您能够分析和测试质量和性能的PC显示器或液晶屏幕使用的工具(一系列25个测试模式) |
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可以帮助您校准LCD/LED/OLED/PDP或CRT显示器颜色和阶调浓度,黑白点和亮度设置,以便显示中性色的工具-Atrise Lutcurve 1.5.2 (2010.08.15)
可以帮助您校准LCD/LED/OLED/PDP或CRT显示器颜色和阶调浓度,黑白点和亮度设置,以便显示中性色的工具 |
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IDT发表HQV DVD视讯效能标准测试光盘 (2010.01.19)
IDT（Integrated Device Technology）近日发表，下一代好莱坞高质量视讯标准（Hollywood Quality Video；HQV）Benchmark DVD视讯效能标准测试光盘，已协助评估标准分辨率和高分辨率产品的画像质量、处理和效能，包括显示器、DVD和蓝光播放器、影音接收器、投影器，和视讯处理盒等 |
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ADI发表18款全新低功率ADC (2009.05.14)
美商亚德诺公司（Analog Devices）14日正式发表18款极具电源效率，分辨率范围从10到16位的模拟数字转换器（ADC）。ADI的全新ADC乃是以对于电力需求极为敏感的通讯、工业、可携式电子装置、以及仪器设备等为对象所设计，相较于许多同构型ADC，可以降低功率耗损达到60%之多，并且拥有同级产品中最佳的噪声性能与动态范围 |
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安捷伦推新一代储存及电信组件与系统测试方案 (2009.05.14)
安捷伦科技（Agilent）针对新一代储存及电信组件与系统的测试，推出三款新的量测解决方案。这些新的解决方案是以现有的Agilent 86100C数字通讯分析仪（DCA）为基础。这些工具可以让工程师，轻易地虚拟他们最新的组件和系统设计，并且准确地量化设计的质量 |
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智原科技宣布开始提供SiP设计服务 (2008.03.20)
智原科技(Faraday Technology)宣布将开始提供SiP(system in Package)设计服务，目前已开发RF SiP项目，主要应用于GPS产品。智原并将持续优化其设计流程，包括设计流程自动化以及提供客户封装及电性分析报告等 |
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12/14位低功率模拟数字转换器 (2007.07.24)
本文将介绍一系列高效能高速模拟/数字转换器，采用先进CMOS制程技术制造的模拟/数字转换器不但功能效能齐备，另一特点是可支持高阶架构设计，而且功耗低，是数据转换系统的理想解决方案 |
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IEEE 1500标准测试封套设计与验证测试方法 (2007.06.29)
在延迟错误测试方面，我们提出了两种延迟错误测试方法，称之为G1P2以及G2P2。G1P2为一省测试面积及测试时间的延迟错误测试方法，而G2P2为一准确的高速(At-Speed)延迟错误测试方法 |
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创意电子推出H.264全方位平台解决方案 (2006.08.03)
SoC设计服务厂商创意电子(GUC,Global Unichip Corp.)三日推出新世代影像压缩技术H.264的全方位平台解决方案。该项方案中的H.264影像编码器和译码器IP，已在创意电子标准的AMBA-based GPrime/UMVP-2000验证平台上完成工程验证 |
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创意电子推出UINF-0041全方位解决方案 (2006.06.19)
SoC设计服务厂商创意电子(GUC,Global Unichip Corp.)宣布，其High Speed USB2.0 OTG解决方案UINF-0041已成功通过USB-IF的认证程序。UINF-0041所通过的「Compliance Program of High-Speed OTG Device」为USB-IF甫于今年第一季发布的认证程序，全球认证件数目前仅有个位数 |
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类比/混合讯号之内建式自我测试电路 (2005.07.05)
在电路设计要求功能强大且又快又好的趋势下，IC设计厂商也不得不对外取得矽智产，对于如何验证与修改外部取得的矽智产以符合自己公司需求亦为IC设计厂商的重点。因此可量测性设计（Design for Testability；DfT）的技术亦显得日益重要 |
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提高IC测试质量的设计策略 (2005.05.05)
奈米制程让IC测试质量面临许多新挑战，本文将介绍各种可用以提高测试质量的可测试设计策略；例如利用可准确产生频率周期之PLL来进行实速测试，以及全速式内存内建自我测试等 |
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可测试性设计技术趋势探索 (2005.05.05)
当IC设计日益复杂化，寻找更具成本效益的测试方法成为一大课题；本文将介绍国内可测试性设计（Design for Test）技术的发展现况，包括类比/混合讯号电路的内建自我测试技术（Analog/Mixed Signal Built-In-Self-Test；AMS BIST）、记忆体测试技术（Memory Testing），以及整合核心电路测试机制的系统晶片测试架构（SoC Testing）等技术 |
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微处理器测试的SoC时代新挑战 (2003.05.05)
在电子产品中应用广泛的微处理器，随着晶片面积缩小、功能与复杂度增加，其设计验证与生产测试的难度也随之增加；本文将针对微处理器的生产测试技术，为读者剖析目前微处理器主要的测试策略，以及在系统晶片（System on Chip；SoC）时代所面临的新挑战以及可能的解决之道 |
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IC测试业的回顾与展望 (2001.10.05)
台湾IC产业的成长率一向高于全球至少10%以上，在全球景气低迷时我们还能够维持正成长，但随着国内大举投资资金于产能的扩充之下，看来台湾与全球半导体景气的脉动更为靠近了，厂商也更受全球产业发展趋势的影响 |
