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高复杂度技术融合 将需要灵活性更高的测试平台 (2019.03.15)
为了避免浪费时间与精力建置已存在的事物,在产品创新领域中常会探讨运用与学习其他产业的概念,这项概念也可应用到测试策略上。功能安全就是很好的范例。重型制造业的产品本质以安全为重,在这项本质的促进下,经过数十年的学习,此产业开发出可证实其嵌入式电子装置功能安全的程序:IEC 61508
多产业融合方兴未艾 测试策略也须融入全新思维 (2019.01.18)
在今日,技术与程序正跨越传统产业界线,让测试工程师同时面临着苦恼以及强大潜力的两种极端。事实上,产业融合并非新概念,事实上可能还是最古老的概念之一。市场在彼此互动时,会自然地交换想法、程序与技术,让不同市场变得更为紧密交织
NI发表全新PXI远端控制与汇流排扩充模组 (2017.08.30)
NI国家仪器推出具备PCI Express Gen 3连接功能的全新高效能PXI远端控制与汇流排扩充模组系列。PCI Express Gen 3技术可提供更高频宽,对5G行动研究、RF记录与播放,以及多通道数资料撷取等需要分析大量资料的应用来说,至关重要
NI VirtualBench多合一仪器提升示波器与函式产生器性能 (2017.02.17)
NI国家仪器于近日发表 VirtualBench 更高效能的全新机箱:VB-8054 仪器。 VirtualBench 多合一仪器可在单一装置内整合五种仪器,且各个仪器的效能皆不受影响,同时可以降低测试与量测系统的成本与体积
NI 发表高精度PXI电源量测单元 (2016.08.05)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供 10 fA 的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率,工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用
NI发表高精度PXI电源量测单元 (2016.07.25)
NI 国家仪器于近日推出 NI PXIe-4135 电源量测单元 (SMU) 提供10 fA的量测灵敏度与高达 200 V 的电压输出。透过NI PXI SMU 的灵活弹性、高通道数密度、测试输出率,工程师可使用NI PXIe-4135 SMU 量测低电流讯号,并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用
速度/密度/弹性,NI 树立 SMU 新标竿 (2014.06.30)
NI 美商国家仪器推出NI PXIe-4139 系统电源量测单位(SMU),NI SMU 系列的高效能产品。这款SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本,同时加快上市速度,适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业
NI 树立 SMU 新标竿 (2014.05.19)
NI 美商国家仪器推出 NI PXIe-4139 系统电源量测单位 (SMU),NI SMU 系列的高效能产品。这款 SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本,同时加快上市速度,适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业
提升半导体测试精确度的模块化图形系统设计架构 (2007.11.19)
整合越来越多功能的半导体制程,也越来越需要更为严谨且精准的验证测试套件。逐渐迈向工业测试标准的PXI模块化仪器以及图形化系统设计(Graphical System Design)解决方案,已经带动起IC测试业界的新风潮,成为半导体各类讯号测试不可或缺且重要的辅助依据


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