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速度/密度/弹性,NI 树立 SMU 新标竿
相较于类似的箱型仪器,NI PXIe-4139 以至少两倍的通道密度提供100 倍的取样速度。

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2014年06月30日 星期一

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NI 美商国家仪器推出NI PXIe-4139 系统电源量测单位(SMU),NI SMU 系列的高效能产品。这款SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本,同时加快上市速度,适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业。

「有了NI PXIe-4139,工程师和科学家即可享有广大的IV 范围,像是高达500 W 的脉波产生功能,以及100 fA 的灵敏度,透过单一仪器即可测试多种装置」,NI 测试系统的资深部门经理Luke Schreier 表示:「NI PXIe-4139 的精巧机身也是关键之一:相较于旧款箱型仪器的SMU,有助于大幅减少系统体积。」

NI PXIe-4139 搭载了NI SourceAdapt 技术,可帮助工程师客制化SMU 控制回路,针对各种负载产生最理想的SMU 响应。这么做有助于保护待测装置,提高系统的稳定性。此外,NI PXIe-4139 系统SMU 可以1.8 MS/s 的速度执行量测,比传统的SMU 快了100 倍,不但能够缩短测试时间,还可以帮助工程师掌握暂态装置的行为,不需要额外设备。

「如果想要随时掌握越来越复杂的现代电子装置,就会需要全新的仪器思维」,Schreier 指出:「有了SourceAdapt 技术,再加上PXI 模组化仪器和NI LabVIEW 系统设计软体固有的优势,工程师即可缩短测试时间、保护待测装置,借此享有绝佳的竞争优势。」

【重点功能】

‧ 100 fA 的电流量测灵敏度:针对高效能半导体装置执行精准的特性测试。

‧ 1.8 MS/s 取样率:掌握暂态装置特性,不需要额外设备。

‧ 4U 的19 吋机箱空间可容纳高达17 个SMU 通道:尽可能降低多通道数系统的体积。

‧ SourceAdapt 技术:缩短暂态时间,借此缩短整体的测试时间,保护待测装置不会因为过冲和震荡而受损,就算是高电感或高电容负载也一样。

關鍵字: SMU  NI 
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