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爱德万测试与PDF Solutions联手 针对IC测试优化打造ACS产品 (2021.10.04)
为了扩大先进分析应用，并透过与测试端更紧密的整合，催生更有价值的系统与解决方案。爱德万测试（Advantest）与半导体产业生态系全面性资料解决方案供应商PDF Solutions Inc |
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太克推出S530参数测试系统 加速半导体晶片生产 (2021.09.27)
Tektronix 发布了适用于 Keithley S530 系列参数测试系统的 KTE V7.1 软体，在全球市场最需要的时机协助加速半导体晶片的制造流程。
KTE V7.1 版本首次提供的新选项包括全新的平行测试功能和独特的高压电容测试选项，适用于新兴电源和宽能隙应用 |
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Tektronix推出S530列叁数测试系统 搭配KTE 7软体支援WBG制造 (2020.10.07)
测试与量测解决方案供应商Tektronix公司今天发布了新款Keithley S530系列叁数测试系统，以及KTE7软体和其他增强功能。S530平台使半导体制造厂能为高速成长的新技术增添叁数测试能力，同时有效降低CAPEX投资，并显着地提升每小时晶圆产量 |
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Tektronix推出Keithley S540功率半导体测试系统 (2016.11.03)
Tektronix（太克科技）推出Keithley S540功率半导体测试系统，这是为高达3kV的功率半导体装置和结构提供的全自动48针脚参数测试系统。完全整合的S540是专为与最新复合功率半导体材料（包括碳化矽（SiC） 和氮化镓（GaN）） 搭配使用而进行最佳化处理，可在一次探头接入中执行所有高压、低压和电容等测试 |
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吉时利仪器扩展参数测试系统量测能力 (2012.03.27)
吉时利(KEITHLEY)持续强化S530参数测试系统，使这款测试系统为参数测试最具成本效益的解决方案。在最新版本吉时利测试环境软件(KTE V5.4)的支持下，S530目前可被配置为48 pin 完整的Kelvin开关与搭配最新选项以提供脉冲产生器、频率量测和低电压量测 |
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吉时利最新的S530系列参数测试系统-吉时利最新的S530系列参数测试系统 (2011.11.18)
吉时利最新的S530系列参数测试系统 |
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吉时利针对晶圆厂推出半导体测试软件升级版 (2011.09.27)
吉时利仪器（Keithley）公司于日前宣布，推出测试环境（KTE）半导体测试软件的升级版。KTE V5.3是专为配合吉时利的程控监控方案产品线S530参数测试系统使用所设计。
吉时利表示，KTE是一款强大的测试开发和执行软件平台，全球有数百家半导体晶圆厂皆使用吉时利前几代的参数测试系统 |
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延续投资效益 晶圆厂投资测试软件不手软 (2011.09.25)
对于量测业者来说，测试系统新旧版本兼容性是新版本能否成功的关建之一。量测业者吉时利致力于让新测试系统高度兼容于较早的系统，以支持吉时利参数测试客户。推出的新版本测试环境（KTE）半导体测试软件--KTE V5.3，是专为配合程控监控方案产品线S530参数测试系统使用所设计 |
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吉时利仪器强化参数测试系统的处理量与精确度 (2011.04.17)
吉时利仪器（Keithley）于日前宣布，针对S530参数测试系统的进行数个更新；S530参数测试系统目前广泛用于半导体产业。这些更新包括增加吉时利最新的高处理量切换主机、协助完整切换讯号 |
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整合是为了创造更大优势与更强能力 (2011.04.15)
各种研发、可靠度和生产测试等应用上，非常需要针对高功率电子特性分析而设计的高功率系统电源电表。对此，吉时利仪器推出了2600A SourceMeter系列的最新产品Model 2651A，可提供业界最宽的电流应用范围，满足测试高亮度LED（HBLED）、功率半导体、DC-DC转换器、电池，以及其他高功率材料、组件、模块和零件等测试需求 |
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Keithley新品发表会 (2011.04.12)
美商吉时利秉持着对测试及量测市场的坚持，持续精进技术并推出更多符合客户需求的产品。这一次除了推出备受好评的系统电源电表(System SourceMeter®)的最新型产品2651A；也推出业界功能最强大的参数测试系统，协助客户实现高功率组件的准确特性分析 |
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安捷伦针对半导体组件仿真应用推出新软件 (2010.08.30)
安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，推出了集成电路特性描述与分析程序 (IC-CAP) Wafer Professional (WaferPro) 软件。该款新软件为半导体组件的仿真应用，提供一个多组件、多晶圆的自动化直流与射频量测解决方案 |
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Aeroflex发表针对含LTE的RF参数测试完整解决方案 (2009.12.02)
Aeroflex宣布推出7000系列向量分析仪产生器（VAG），是单一、集成之RF参数测试系统,可用于无线零组件和子系统的RF测试。7000系列在单一装置中结合了向量讯号产生和向量讯号分析功能，提供一个集成的方案来测量包括LTE等复杂的无线电标准 |
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吉时利宣布将与Stratosphere Solutions合作 (2008.03.13)
美商吉时利仪器(Keithley)宣布今后将与Stratosphere Solutions进行密切合作。Stratosphere Solutions是专为IC厂商提供创新参数良率改良方案的厂商。两家公司将合作，运用Array TEG(测试组件群)技术，以支持先进制程的开发和监控 |
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美商吉时利仪器推出晶圆参数测试系统 (2007.07.30)
量测解决方案厂商—美商吉时利仪器公司，宣布晶圆参数测试系统--S600系列的多项功能，包括将每个测试系统的控制计算机移转为Linux操作系统， 提供更稳定的操作系统与使用寿命更长的计算机，降低客户新设工作站与升级软硬件资源的需求 |
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安捷伦科技推出4080系列新款参数测试平台 (2007.04.24)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）发表专为解决半导体制造与研究环境工程人员之评估需求而设计的新一代参数测试平台。Agilent 4080系列以前所未见的效能，涵盖完整范围之量测需求 - 从主流制程到45奈米以上的先进制程 |
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力晶选用Agilent测试系统执行晶圆参数测试 (2006.06.05)
安捷伦（Agilent）宣布，力晶半导体12M新厂决定采用Agilent 4070系列之高精密参数测试系统，以执行产品之晶圆参数测试Wafer Acceptance Test(WAT)。
安捷伦科技之Agilent 4070系列提供了卓越质量, 高稳定, 及高输出(throughput) 之完整参数测试解决方案，能完全符合业界对于产品之严格参数测试需求 |
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安捷伦93000及4073参数测试获Crolles2联盟青睐 (2006.02.27)
Agilent Technologies安捷伦科技宣布，Crolles2联盟已采购三套Agilent 93000 Pin Scale测试系统以及四套4073先进参数测试系统，从事CMOS制程技术的研究、发展及工业化应用。
由意法 |
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Keithley第三代RF测试新药方 高品质、低成本、不须费心关注 (2005.04.01)
美商吉时利仪器（Keithley Instruments）创立于1946年，在精密测试及量测领域累积不少经验，尤其是微弱伏特、电流、电阻及电容等产品之量测，在业界素执牛耳。 |
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Keithley第三代RF测试新药方 高品质、低成本、不须费心关注 (2005.04.01)
美商吉时利仪器（Keithley Instruments）创立于1946年，在精密测试及量测领域累积不少经验，尤其是微弱伏特、电流、电阻及电容等产品之量测，在业界素执牛耳。 |
