账号：
密码：
鯧뎅꿥ꆱ藥 2 곧
KLA-Tencor全新控片检测系统提升芯片生产开发 (2008.09.08)
KLA-Tencor公司推出专为IC市场设计的全新控片检测系统Surfscan SP2XP，这套新的系统是去年KLA-Tencor针对晶圆制造市场推出的同名工具。全新的Surfscan SP2XP对于硅、多晶硅和金属薄膜缺陷具备更高的灵敏度，相较于前一代产品Surfscan SP2，Surfscan SP2XP加强了依据缺陷类型及大小分类的能力，并配备真空搬运装置和业界最佳的生产能力
KLA-Tencor将检测工具扩展至量测领域 (2007.07.13)
KLA-Tencor推出SURFmonitor组件，它使得Surfscan SP2非图样表面检测系统突破了传统的缺陷检测藩篱，也具备监控制程变化与趋势的能力。SURFmonitor系统的设计目的是测量芯片或平薄膜表面形态的变化，而它们与大量的制程参数(例如表面粗糙系度统、的粒设状计大小与温度)息息相关


  跥Ꞥ菧ꢗ雦뮗
1 Microchip推出全新Switchtec PCIe 4.0 16通道交换器系列产品，?汽车和嵌入式计算应用提供多功能性
2 意法半导体推出 STM32WL33 低功耗长距离无线微控制器及专属生态系扩充方案
3 贸泽电子即日起供货能为工业应用提供精准感测的 Analog Devices MAX32675C微控制器
4 凌华科技携手锐能智慧科技 打造电动车社区充电最隹EMS能源管理系统
5 桓达FSE集尘节能粒子浓度侦测器可即时监测粉尘状态
6 意法半导体推出的安全防护比较器具备稳定启动时间设计 提升系统可靠性并降低电力消耗
7 雅特力AT32F421遥控攀爬车电子调速新方案，助力征服极端地形
8 意法半导体推出灵活、因应未来的智慧电表通讯解决方案，协助能源转型
9 泓格PET-2255U：灵活接线与简易控制，工业自动化的全能利器
10 安勤全新高效节能伺服器HPS-SIEU4A/HPS-SIEUTA解码绿色运算

AD
刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 读者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹
︱ Copyright ©1999-2025 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw