Clif
(不在在线)
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来自: 台灣
文章:
42
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发 表 于:
2007.08.22 11:35:14 AM
文章主题:
Re: 多核心晶片就有多用途,設計時不妨多用新觀念,或是以應用來帶動設計模式.
這樣的多核心設計架構應用在消費電子領域，如何降低晶片設計後投產的失敗率？亦即如何降低NRE〈Non-Recurring Engineering〉？如何縮短設計驗證除錯調校的TAT〈Turn Around Time〉過程？在提高EDA工具互通性的功能上有沒有特殊的地方？就教於各位大大........ |
