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(内部测试档) (2024.07.31)
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自动测试设备系统中的元件电源设计 (2024.07.26)
本文叙述为自动测试设备（ATE）系统中的元件电源（DPS） IC选型指南，能够协助客户针对其ATE系统的实际要求选择合适的DPS IC，并满足ATE系统输出电流、热要求的系统级最隹化架构 |
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Littelfuse新款超小型7 mm磁簧开关提供更高可靠性 (2024.01.31)
Littelfuse公司推出MITI-7L磁簧开关系列。与现有的7 mm磁簧开关相比，这些超小型磁簧开关具有更长的使用寿命和更高的可靠性，可实现数百万次??圈。其超长的使用寿命超出工业磁簧继电器、测试设备和安全应用的要求 |
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Littelfuse超小型12.7mm磁簧开关适用於电器和ATE应用 (2024.01.17)
Littelfuse公司推出MATE-12B磁簧开关系列。新款超小型12.7 mm磁簧开关具有更长的使用寿命和更高的可靠性，以及设计灵活性，可实现数百万次??圈。其使用寿命超过自动测试设备与电器应用的要求 |
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经部发表量测、导航及控制设备业产值 自中美贸易战5年来首度衰退 (2023.06.06)
当近年来全球经济受到国际地缘政治冲突影响，台湾也继日前宣告今（2023）年Q1出囗及制造业产值持续衰退之外，再依照经济部最新统计量测、导航及控制设备业今年1~4月产值也是自中美贸易战开打5年来（2018~2022）首度出现断崖式下滑，3大主要品项的Q1产值皆呈现衰退，检测设备年减幅度更达到22 |
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筑波与Teradyne携手打造客制化半导体测试方案 (2023.02.13)
因应全球消费性产品及电动汽车（EV）高功率、高电流测试需求，第三类半导体氮化??（GaN）与碳化矽（SiC）材料为新主流。在供应链中每个元件的品质把关都是关键，制程测试准确度足以影响整体PMIC，筑波科技与美商Teradyne携手合作推广Eagle Test Systems（ETS），满足客户客制化需求 |
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SONDREL：汽车行业正在降低可接受的晶片缺陷水平 (2022.06.09)
由於汽车需要超高水平的可靠性和安全性，汽车行业正在为晶片的「零缺陷」（Zero Defects）设定更严格的目标。「零缺陷」是指行业可接受的缺陷水平，为汽车公司提供交钥匙ASIC设计和制造的Sondrel报告称，他们的规范正在从每百万缺陷(defects per million；DPM)转变为每十亿缺陷(defects per billion；DPB) |
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爱德万测试针对高速扫描与软体功能性测试开发创新方法 (2021.07.02)
爱德万测试 (Advantest Corporation) 针对次世代解决方案进行先导测试，运用先进IC现有之高速串列I/O介面，在V93000平台同时执行高速扫描测试与软体驱动功能元件测试。此全新方法能使在新的测试架构上的扫描测试结果与既有的方式相互吻合、同时能启动且执行晶载测试软体 |
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利用截波放大器 实现讯号链零错误的两种解决方法 (2021.02.04)
可编程逻辑控制器、秤重和自动测试设备等工业设备，对更高解析度和速度的讯号链需求逐渐攀升，对高精密度放大器的需求也跟着增加，因为在这类讯号链中，高精密度放大器可当作类比转数位转换器(ADC)驱动器和电压叁考缓冲器来使用 |
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Littelfuse新型簧片继电器 提升交流和直流高压负载转换的可靠性 (2021.02.03)
电路保护、电源控制和感测技术制造商Littelfuse今日宣布推出扩展的簧片继电器产品组合，该产品组合将电压能力扩展到包括交流额定值，支持高达300Vdc的交流或直流负载，并提供输入/输出隔离电压2500VRMS |
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因应百万兆级运算测试新挑战 爱德万推出次世代V93000测试机 (2020.10.22)
V93000 EXA Scale系统单晶片测试系统
半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation) 针对运算效能达百万兆级 (Exascale) 的先进数位IC，发表最新次世代V93000测试机。该系统搭载最新测试头，结合Xtreme Link科技及EXA Scale通用数位和电源供应卡，不仅能支援最新测试方法，更能降低测试成本、缩短产品上市时程 |
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爱德万最新V93000系统单晶片测试系统 解决百万兆级运算测试挑战 (2020.09.25)
半导体测试设备供应商爱德万测试(Advantest Corporation)针对运算效能达百万兆级(Exascale)的先进数位IC ，发表最新次世代V93000测试机。该系统搭载最新测试头，结合Xtreme Link科技及EXA Scale通用数位和电源供应卡，不仅能支援最新测试方法，更能降低测试成本、缩短产品上市时程 |
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[CTIMES??安驰] 打造更高整合ATE方案 解决IC设计当务之急 (2020.06.30)
自动测试设备（ATE）是指用於检测电子元件功能完整性的相关装置仪器设备。这些测试装置透过讯号的产生与撷取，并捕捉元件的回应来检测元件的品质与特性是否良好。在半导体元件的生产过程中，ATE测试通常为晶片制造最後的一道关键流程，用於确保晶片的品质良好 |
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Microchip推出53100A型相位杂讯分析仪 用於精准振荡器特性分析 (2020.04.30)
Microchip今天发布新一代相位杂讯分析仪，产品型号为53100A。这款相位杂讯测试仪可协助研发人员和制造工程师更精确地测量频率讯号，包括由原子钟产生的讯号，以及由其他高频叁考模组和子系统产生的讯号 |
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东芝推出低电压驱动系列光继电器 (2019.06.17)
东芝电子元件及储存装置株式会社（东芝）推出新系列五款光继电器产品，该系列光继电器均采用业界最小型封装S-VSONR4 (2.0mm x 1.45mm)。其适用於自动测试设备、记忆体测试仪、SoC/LSI测试仪和探针卡 |
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智慧制造带动商机 工业机器人市场乐观 (2019.06.17)
工业机器人是智慧制造的重要设备，2019年全球机械产业景气虽然不佳，不过在工业4.0的带动下，工业机器人的后续发展仍乐观。 |
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爱德万测试VOICE 2019开发者大会即将於美国、新加坡隆重登场 (2019.05.15)
(日本东京讯)半导体测试供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)主办的第13届年度VOICE开发者大会(VOICE 2019)，即将於5月14~15日，在美国亚利桑那州斯科茨代尔 (Scottsdale)、以及5月23日在新加坡隆重登场，帮助国际半导体社群站稳领先优势，并持续精进IC测试的效率与成本效益 |
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爱德万测试研发出用於记忆测试系统STT-MRAM的切换电流测量系统 (2018.11.21)
半导体测试设备供应商爱德万测试宣布其与日本东北大学创新整合电子系统中心〈CIES〉的合作，本计画由东北大学电机研究所教授远藤哲夫主持，成功地研发出高速、高精确度模组，可以测量磁性随机存取记忆体〈STT-MRAM〉中记忆束的切换电流，这是众所期待用於爱德万测试记忆测试系统的次世代记忆技术，运作速度为微安培/奈米秒 |
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Mentor与Teradyne推出ATE-Connect测试技术 大幅缩短晶片除错与测试上线时间 (2018.11.15)
Mentor今天宣布，在其Tessent SiliconInsight 产品中针对IC除错与测试上线(bring up)推出ATE-Connect?技术。 ATE-Connect技术开创了业界标准的介面，可免除与专有、测试机台特定软体以及可测试性设计(DFT)平台间的通讯障碍 |
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物联网测试需求增 爱德万以高整合解决方案备战 (2017.09.06)
随着物联网趋势的崛起，半导体自动测试设备供应商爱德万测试(Advantest) 近几年针对物联网领域中多变复杂的技术特性，持续推出整合性更高的量测解决方案，满足低阶至高阶、晶片至系统层级，以及研发端至产线的各种量测需求 |
