账号:
密码:
CTIMES / 活动 /   
Material Analysis & Failure Analysis
 


浏览人次:【1471】

開始時間﹕ 六月二十日(二) 09:00 結束時間﹕ 六月二十日(二) 16:00
主办单位﹕ 經濟部工業局
活動地點﹕ 新竹市光复路二段101号清大研发大楼2楼
联 络 人 ﹕ 李小姐 联络电话﹕ 03-5735521*3225
報名網頁﹕
相关网址﹕ http://www.idb-si.net/DesktopDefault.aspx?tabid=9&ItemID=330

利用物化性分析产品真正不良现象,了解产品不良原因及改善方法,提升产品良率。

课程大纲: 1.电子产品不良实例分析流程

2.电子产品不良分析仪器(SEM、TEM、Auger/ESCA、 FIB)及技术介绍

3.电子产品(IC、Package、Assemble、PCBA、TFT-LCD)不良实例说明及解决

4.BGA不良实例说明及解决

5.无铅组装不良分析

相關活動
『ISO 14064-1 温室气体盘查排放量和消除量』研习会
智慧制造及面板光电产业趋势论坛
智慧显示应用商机研讨会-智慧医疗
国际智慧医疗与照护场域科技应用研讨暨媒合会
2020智慧城乡建设研讨会

 
相关讨论
  相关新品
Arduino Motor Shield
原厂/品牌:RS
供应商:RS
產品類別:
mbed
原厂/品牌:RS
供应商:RS
產品類別:
Arduino
原厂/品牌:RS
供应商:RS
產品類別:
  相关新闻
» 联觉科技创新纺织技术 获Under Armour鞋材数位化设备指定供应商
» VESA:DisplayPort 2.1a版支援更长超高位元率(UHBR)讯号线
» 贸泽电子即日起供货Microchip WBZ350射频就绪多重通讯协定MCU模组
» Microchip的RTG4 FPGA采用无铅覆晶凸块技术达到最高等级太空认证
» 诺贝尔物理奖得主登场量子论坛 揭幕TIE未来科技馆汇聚国内外前瞻科技
  相关文章
» 探索48V系统演变 追踪汽车动力架构重大转型
» 运用AI提升BFSI产业经营优势的关键策略
» 物联网结合边缘 AI 的新一波浪潮
» 共封装光学(CPO)技术:数据传输的新纪元
» 为嵌入式系统注入澎湃动力 开启高效能新纪元
  相关资源
» Power Management Solutions for Altera FPGAs

AD

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3
地址:台北市中山北路三段29号11楼 / 电话 (02)2585-5526 / E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw