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CTIMES / 量測
科技
典故
微软的崛起

微软于1975年,由比尔盖兹和好友保罗艾伦共同成立,1981年,比尔盖兹完成的MS-DOS 第一版与IBM生产的第一部个人计算机同步推出,藉由MS-DOS的成功,微软陆续推出了很多广受欢迎的软件,除了注重产品间的兼容性,也在软件开发上重视长期目标的策略, 这就是微软能持续保有市场的原因。
启动团队价值 LitePoint全面制霸市场 (2014.11.17)
掌握客户、了解客户,才能进一步掌握产业脉动。 市场需要的,是快速反应、快速解决问题的能力。 而年轻的工程团队,正是LitePoint制霸产业的新动能。 由于消费市场脚步变化十分快速,相关厂商无不积极打造更有竞争力、更有影响力、更具差异化的新产品,来刺激消费者的味蕾
罗德史瓦兹:量测系统整合 为目前最大挑战 (2014.09.18)
相较于是德科技或是NI(美国国家仪器),罗德史瓦兹在量测仪器的产品策略是相对较为传统,在是德科技加入模块化量测战局后,市场俨然吹起一片「模块化」的风潮,似乎模块化量测才是电子量测领域的唯一救赎,但时至今日,罗德史瓦兹依然屹立不摇,显见市场存在另一种声音与思维
五大趋势决定量测自动化未来 (2014.05.02)
自动化量测具备高弹性特色,为竞争日益激烈的电子产品制造商,提供了高性价比的量测解决方案,从大方向来看,自动化量测从2010年开始,有五项较为明显的趋势,这些趋势将使的此一产业出现与以往不同的面貌
PAC逐渐成形 嵌入式自动化市场再下一城 (2013.12.23)
如果依照维基百科对嵌入式系统的定义,「嵌入式系统通常执行的是带有特定要求的预先定义的任务,由于嵌入式系统只针对一项特殊的任务,设计人员能够对它进行优化,减小尺寸降低成本
LitePoint:台厂,你仍有机会抢得先机! (2012.10.02)
智能型手机、平板正夯,出货量呈指数增长。然而,如今测试一台智能手机仍需10分钟,按此速度,根本无法追赶上消费者的需求。无线测试系统解决方案领导厂商莱特菠特(LitePoint)营运长Brad Robbins看准这股市场趋势
工研院发表非侵入式血糖仪 从眼睛里看健康 (2012.10.02)
糖尿病患最引以为苦的,莫过于每天4-6次穿刺采血检验血糖值。为此,工研院今(2)日发表非侵入式「实时自我监测血糖仪」技术,透过低能量红外光照射眼睛内的前房液,来检测葡萄糖浓度改变化,推算得知人体相对的血糖浓度值
R&S推高阶影音接口测试仪 弹性化方案满足多种需求 (2012.09.12)
随着现今消费者对于高画质影像需求越来越高,不少平板计算机、智能手机等行动装置都已有支持高画质影音传输接口如MHL、HDMI。为了满足各种接口的测试需求,R&S推出VTC影音测试中心,可针对传输接口的兼容性进行相关标准的功能性测试,并提供实时协议测试和影音分析功能
量测产业下一步:迈向标准化 (2012.08.07)
「科技」,可以是一种时尚。「科技」,也可以是一种潮流。但是,它更必须具有一种独特的思维,才得以不断超越过去。CTIMES特地邀请美商国家仪器(National Instruments;简称NI)总经理孙基康谈谈整个量测科技的脉动与观察
凌华推出16位PXI Digitizer新品系列 (2009.02.13)
数据撷取与PXI平台产品供货商凌华科技宣布以优惠价格推出一系列16位PXI Digitizer产品(PXI数字器),透过特别优化的模拟前级设计、精密校正电路以及搭配高解析之模拟数字A/D转换器,提供高精准度、低噪音以及高动态范围性能
Tektronix发行第一套物理层测试程序 (2008.11.06)
测试、量测及监测仪器厂商Tektronix宣布发行Serial ATA 3.0版标准物理层测试的第一套测试程序。Tektronix针对SATA物理层设计和侦错提供完善的高速串行数据测试组合。 Serial ATA储存接口的第三代规格最大传输速度将从3Gb/s倍增至6Gb/s,准备迈向更高性能的储存解决方案,包括新的固态磁盘驱动器和企业商业储存需求
2008安捷伦电子量测论坛开幕记者会 (2008.06.24)
2008安捷伦电子量测论坛将于2008年7月8,10日盛大展开,这次活动将分两大主题『Moving into a New Era of Wireless(迈入无线新纪元)』与『The Way Ahead for Digital Design Measurement" (数字设计量测的前景)』
2008安捷伦电子量测论坛-新竹场 (2008.06.17)
安捷伦科技致力于量测技术发展,在客户导向的市场趋势中,持续提供支持台湾高科技产业的竞争力提升。连续八年,举办十次安捷伦电子展,与顾客分享最具市场趋势的全系列解决方案
2008安捷伦电子量测论坛-台北场 (2008.06.17)
安捷伦科技致力于量测技术发展,在客户导向的市场趋势中,持续提供支持台湾高科技产业的竞争力提升。连续八年,举办十次安捷伦电子展,与顾客分享最具市场趋势的全系列解决方案
KLA-Tencor 针对32奈米光蚀控制推出新量测系统 (2008.06.09)
KLA-Tencor公司推出最新的迭对量测系统Archer200,搭载强化的光学系统,在32奈米设计规格节点中,协助客户达到双次成图光蚀(Double-patterning lithography)所需的更高要求,大幅提升性能
PXI TAC 2008第五届大中华PXI技术和应用论坛 (2008.05.19)
PXI技术经过多年的推广与发展已经成为业界纯熟知名的量测平台,而每年固定将最新PXI技术和热门应用介绍给广大客户的大中华PXI技术和应用论坛也已迈入第五年。PXI TAC 2008将展于6月3日于六福皇宫!在此论坛中
智原科技宣布开始提供SiP设计服务 (2008.03.20)
智原科技(Faraday Technology)宣布将开始提供SiP(system in Package)设计服务,目前已开发RF SiP项目,主要应用于GPS产品。智原并将持续优化其设计流程,包括设计流程自动化以及提供客户封装及电性分析报告等
安捷伦射频量测技术研习营组件篇-高雄 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营,这场免费的半天研习营活动,将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式,以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中,有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战
安捷伦射频量测技术研习营组件篇-新竹 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营,这场免费的半天研习营活动,将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式,以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中,有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战
安捷伦射频量测技术研习营组件篇-台北 (2008.03.05)
安捷伦科技将举办射频量测技术研习营,这场免费的半天研习营活动,将介绍相位噪声(Phase Noise)、噪声指数(Noise Figure)等组件量测参数基础概念与正确量测方式,以协助您克服在短程和长程无线通信等各种技术中,有关测试信号的产生与组件特性的分析等挑战
LED散热与量测技术(CIE127)研讨会 (2007.11.28)
此课程将探讨LED之基本原理与制程,讲解一般光学量测之定义、名词和理论。同时因发光二极管与传统灯源的特性完全不同,适用于传统照明光源的全光束及亮度量测方法未必适用于LED量测上,为此国际照明协会特别针对LED光学特性的量测进行研究,并制订「CIE-127 Measurement of LED」(即CIE-127)作为各研究单位与厂商依循的规范

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