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R&S推出专用於相位杂讯分析及高达50GHz压控振荡器量测的FSPN50 (2024.03.13)
随着R&S FSPN系列相位杂讯分析仪和VCO测试仪的最新款型号推出，Rohde & Schwarz将测量频率范围从先前的最大值26.5GHz扩展至50GHz。通过严格执行专门针对相位杂讯分析和压控振荡器(VCO)测量的功能，Rohde & Schwarz为所有R&S FSPN系列型号提供了价格性能比 |
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Microchip推出53100A型相位杂讯分析仪 用於精准振荡器特性分析 (2020.04.30)
Microchip今天发布新一代相位杂讯分析仪，产品型号为53100A。这款相位杂讯测试仪可协助研发人员和制造工程师更精确地测量频率讯号，包括由原子钟产生的讯号，以及由其他高频叁考模组和子系统产生的讯号 |
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时域/频域的抖动测量 (2014.11.26)
高速数据链路使得存取信息的速度大幅提升。
这使得系统设计人员从初始设计、测试到标准遵从，
各个应用层都面临着更种技术挑战。
(刊頭)
在今天，我们存取信息的速度大幅提升，如我们在因特网上接入视讯流、利用各种云端应用等 |
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安捷伦信号源分析仪协助Sirenza加快测试时间 (2005.04.19)
安捷伦科技宣布，Sirenza Microdevices新的自动化测试机台采用Agilent E5052A Signal Source Analyzer（SSA；信号源分析仪）之后，生产力已提高10倍之多。安捷伦科技的SSA取代了Sirenza复杂机架上多达12件的测试设备，使该公司只需用单一部仪器，即可执行RF和微波信号量测，且所花的时间只有原先的一小部份，结果，六个月内就回收了这项设备的投资 |
