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厚翼科技提供检测与修复结合的SRAM解决方案 (2018.06.04)
厚翼科技 (HOY Technologies)内嵌式测试（BIST ,Built-In Self-Test）的解决方案可以确保记忆体储存功能是正确无误的；而内嵌式修复 (BISR, Built-In Self-Repair) 的解决方案可帮助客户提升良率减少生产成本的浪费 |
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记忆体测试与 ISO 26262的关联性 (2016.11.02)
自从ISO 26262于2011年底发布后，已迅速成为全球各大车厂全力推动的车用电子安全性标准；此安全标准定义了3.5吨以下乘用车中有关电子系统的功能安全规范... |
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