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突破E＝mc2的能量極限 (2005.05.05) |
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4月19日晚上7點，台北101大樓上打出一行人人熟悉的公式：「E＝mc2」，在炫目的煙火秀中，台灣響應聯合國紀念偉大科學家愛因斯坦（Albert Einstein，1879.3.14～1955.4.18）的「讓物理光耀世界」/「2005世界物理年」活動也達到高潮... |
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多核心時代來臨 (2005.05.05) |
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隨著半導體技術的進展，中央處理器的運算能力越來越強，但是許多技術瓶頸也越來越棘手，但是處理器的重要性卻沒有因為具備特殊功能的運算單元發展而降低，尤其是在非可攜式的產品上，搭載一強大的運算核心，仍然是最常見的架構，數年前廠商提出來的多核心處理器概念，近來成為市場主流，也引發了一股不小的熱潮... |
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認錯 (2005.05.05) |
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下班後，獨自搭著公車回家。夜晚七點的台北，行人的腳步與疲憊的車流詮釋了一整天的倦意。... |
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在USB OTG及車用套件中應用類比開關 (2005.05.05) |
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深入瞭解類比開關及其特性是非常重要的；如果沒有適當的考慮，插入損耗、頻寬、關斷隔離、串音...等能力都可能影響最終產品。本文以在可攜式設備與消費性電子產品中十分熱門的USB OTG與汽車套件為例，解析類比開關在不同領域之應用上所需注意的要素... |
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在USB OTG及車用套件中應用類比開關 (2005.05.05) |
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深入瞭解類比開關及其特性是非常重要的；如果沒有適當的考慮，插入損耗、頻寬、關斷隔離、串音...等能力都可能影響最終產品。本文以在可攜式設備與消費性電子產品中十分熱門的USB OTG與汽車套件為例，解析類比開關在不同領域之應用上所需注意的要素... |
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MIMO強化WLAN涵蓋範圍與傳輸速率 (2005.05.05) |
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MIMO已被採用來做為定義下一代WiFi，也就是IEEE 802.11n標準的基礎。未來MIMO將廣泛地被用在WiFi設備上，MIMO能克服訊號衰落、干擾增加及有限頻譜等挑戰的技術。在不佔用更多頻寬的情況下，除了能讓傳輸速率倍增，也同時能增加傳輸範圍和使用的穩定性... |
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採深記憶體之高速數位器優勢概論 (2005.05.05) |
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採用深記憶體的高速數位器具有強化時域及頻域量測的能力。本文將以最大數位器取樣率進行長時間資料擷取的應用為例，說明數位器的記憶體深度可決定量測之品質及精度... |
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以0.18μm CMOS製程製作之40GHz 除頻器 (2005.05.05) |
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本文用以分析預測再生除頻器（regenerative divider）所需的相位移及適當操作的選擇。另外，本文介紹一除頻器利用共振的觀念，透過實作在晶片上的螺旋電感去除裝置上的電容效應... |
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應用程式處理器的電源管理設計 (2005.05.05) |
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可攜式電子產品的新功能數量幾乎每幾年便會增加一倍，但製造特殊系統功能的總成本也必須壓到最低，因此必須藉由重複利用現有的設計及建立新的設計或新增功能來分攤工程設計工作... |
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類比數位轉換器規格概述 (2005.05.05) |
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類比數位轉換器（ADC）有許多常用詞彙，但若觀察製造商在元件資料表（data sheet）中定義類比數位轉換器效能的方式，卻常會發現它們令人混淆不清，剛接觸類比數位轉換器的工程師對此尤感困擾，因為他們必須瞭解這些規格，才能為應用選擇正確的類比數位轉換器... |
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媒體處理器視訊濾波應用探討 (2005.05.05) |
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隨著定點、高性能嵌入式媒體處理器的出現，經濟有效的即時影像處理已不再是問題。本文將利用範例討論數位影像濾波演算法關於嵌入式媒體處理器結構的多媒體應用特性，並瞭解其結構組成以便提高演算法效率、減少執行周期... |
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DFT讓SoC“健康檢查”更有效率 (2005.05.05) |
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當IC逐漸演化成內部電路錯綜複雜的SoC，以往單純的測試程序也跟著高難度了起來；為了提高這道SoC“健康檢查”程序的效率，在前段IC設計中採用可測試性設計（Design for Test；DFT）技術，成為市場接受度越來越高的解決方案... |
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提高IC測試品質的設計策略 (2005.05.05) |
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奈米製程讓IC測試品質面臨許多新挑戰，本文將介紹各種可用以提高測試品質的可測試設計策略；例如利用可準確產生時脈週期之PLL來進行實速測試，以及全速式記憶體內建自我測試等... |
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奈米級IC測試挑戰 (2005.05.05) |
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過去數年，數位電路的測試方法一直隨著科技演進。其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的測試方法... |
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可測試性設計技術趨勢探索 (2005.05.05) |
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當IC設計日益複雜化，尋找更具成本效益的測試方法成為一大課題；本文將介紹國內可測試性設計（Design for Test）技術的發展現況，包括類比/混合訊號電路的內建自我測試技術（Analog/Mixed Signal Built-In-Self-Test；AMS BIST）、記憶體測試技術（Memory Testing），以及整合核心電路測試機制的系統晶片測試架構（SoC Testing）等技術... |
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綜觀手機小型記憶卡市場發展趨勢 (2005.05.05) |
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隨著DSC市場的成長趨緩，新一波的記憶卡需求將會是由手機市場帶動，主因仍在於MP3、高階相機手機、數位錄影三大功能結合手機的運用將成為未來手機主流。手機市場的記憶卡除了傳統使用於DSC市場的記憶卡之外，未來也將以小型記憶卡為主... |
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多維空間晶粒堆疊世代正式來臨！ (2005.05.05) |
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盧超群認為，晶粒堆疊技術將是半導體產業界未來數十年的大革新，這種趨勢總稱為異質性整合，讓晶粒由原本的二度空間排列轉而成為三度空間堆疊。而鈺創這一小步也宣示了多維空間晶粒堆疊的大時代將正式來臨... |
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射頻晶片ASK接收器靈敏度探討 (2005.05.05) |
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射頻晶片的幅移鍵控編碼或開關式編碼超外差接收器目前正逐漸取代包括車庫門、遙控門鎖系統、胎壓監測系統、家庭自動化系統以及其他應用中所使用的再生式接收器，本文將提出一個可以用來在預設射頻晶片雜訊指數下透過目標中頻頻寬與基頻頻寬預估特定射頻晶片中ASK接收器靈敏度的步驟... |
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行動電話製造商所面臨的複雜挑戰 (2005.05.05) |
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行動電話製造商必須為全球各地的電信業者開發出多元化的手機，也因此衍生出複雜的硬體與軟體問題。本文將深入探討大型手機製造商未來發展的解決方案，並提出相關技術建議... |
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愈來愈像人腦的處理器 (2005.05.05) |
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計算機雖然複雜，但不會比你知道的常識難懂。... |
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