高速除頻器在各式寬頻及無線的應用上扮演了關鍵性的角色。操作在27GHz[1]及33GHz[2]的靜態CMOS除頻器已被實現在0.12μm的製程上。未來40Gbps的寬頻無線收發機及60GHz的射頻系統需要更高速的除頻器。
本文提出應用動態密勒除頻器的新思維。透過給定起動條件及結果分析達到高速的電路架構。該除頻器由二個串接的÷2電路組成,在40GHz下,操作頻率範圍為2.3 GHz。在2.5伏特的供應電壓源下,其消耗功率為31 mW。
此外第二部分將呈現密勒除頻器的分析,並建構所提出電路架構的基本原則。第三部分介紹除頻器的電路及量化分析設計上的限制。第四部分描述設計的概念及各個電路組成方塊,第五部分總結驗証結果。
密勒除頻器的分析
1939年,密勒提出一動態除頻器──混合輸出及輸入訊號並將其結果通過一低通濾波器,如(圖一)(a)所示,在適當的相位及增益條件下,該訊號以ωin/2存在並流通於整個迴路。元件的電容可被視為低通濾波器的一部分,因而該電路架構可達到高速之目的,並廣泛地被應用在雙載子電晶體及砷化鎵的除頻器上。
相位移及選擇度之必要條件
為了要提供一個直觀上的電路操作想法,圖一(a)無法規範出適當除頻下的必要條件。舉例說明,該低通濾波器可以一階的RC電路實現,如圖一(b),由混波器的輸出端看入,可得一合理的負載性模型。忽略混波器的非線性可以得到:
其中β表示混波器的轉換因子(conversion factor)。如此一來可得:
有趣的是,上式中y(t)會以時間常數R1C1衰減至零。亦即無論ωin的值相對於低通濾波器的轉折頻率(R1C1)-1是多少,該電路都無法除頻。換句話說,即使選用適當的R1C1來削弱三階諧波3ωin/2,ωin/2仍舊無法再生。
《圖一 動態密勒除頻器;(a)一般架構,(b)RC濾波器的實現電路》 |
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接下來考慮一個極端的例子。假設迴路中所有的時間常數都是可忽略的,所有的波形都是方波且電路正常運作。如(圖二)(a)所示,該混波器輸出訊號類似y(t)但位移了四分之一個週期,於是我們知道在迴路中加入延遲ΔT=π/ωin,將使得除頻器正常運作;如(圖二)(b)。
《圖二 90°相位差的操作;(a)波形;(b)模型》 |
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仔細觀察圖一(b)的RC電路與圖二(b)的所需的條件並不相符。舉例來說,該電路無法在ωin/2時提供90°的相位移;在3ωin/2時,提供270°的相位移。更進一步來看,該電路大大地削弱三階諧波,而無法產生出和圖二(a)相同的理想方波。
以下再來看另一個極端的例子。假設一個迴路在ωin/2時沒有延遲卻具有足夠的選擇度來削弱三階諧波,如(圖三),混波器注入一電流到並聯的LC tank中且。我們假設x1(t)及x2(t)的波峰是對齊的,檢視x1(t) x2(t)及y(t)。如圖三(b)所示,每個週期中,由於三階諧波的緣故,相乘後的波形有許多的零交越點(zero crossings)。也就是說當迴路無法有效地抑制諧波時,該除頻器無法正常地工作。亦即y(t)無法單調地上升或下降。
《圖三 (a)selective network混波器與不同α值的(b)輸入波形與(c)輸出波形》 |
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圖(三)(c)說明不同的衰減因子α(相對於基頻的三階諧波)會有不同的輸出波形。為了去除不相關的零交越點,需y(t)的斜率在正負峰值間不會改變其正負號。已知:
如(圖四)(a)說明,如果0 < 3α< 1,sin(ωint/2)及3αsin(3ωint/2)的和為正。如此,衰減因子α必須符合:
@內文前述的推導假設三階諧波沒有相位移,這和實際RLC tank的運作行為並不相符。既然該tank的諧波需要90°的相位移,我們可改寫(公式四)為:
在一適當區間中,必須維持負的值。將上式二項的值畫於圖四(b)中,我們發現如果sin(ωint2/2)-3αsin(3ωint2/2)>0,t1及t3之間會有正的和。既然相角ωint/2在t2時為60°,可得:
此式較(公式六)來得更為嚴謹。為了保証(公式八)成立,計算tank所需的選擇度如下:
其中LC為(ωin/2)-2且ω=3ωin/2。可以導出:
換句話說,在ωin/2時,tank 的Q為1.24可以保証三階諧波的衰減。當然,假設在ωin/2時的迴路增益是足夠的,在第Ⅲ部分將說明所需的迴路增益可能轉換為更高的Q值。
《圖四 輸出波形的各個分項:(a)簡化的例子;(b)實際的例子》 |
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總括來說,欲適當地操作密勒除頻器,需要迴路中有足夠的寬帶相位移,或是能有效的抑制三階諧波(或是二項條件皆需符合)。典型的雙載子電晶體實現電路屬於前項,本文所提出的除頻架構則是為有效的抑制三階諧波。廣泛應用的雙載子電晶體實現電路示於(圖五)(a),點X及點Y的延遲透過射極隨耦器(emitter follower) 造成Q1和Q2(Q7-Q8及Q1-Q2的基極電阻和基極-集極、基極-射極間之電容亦貢獻一些相位移)的集極(collector)也有延遲,同時衰減了三階諧波。簡化該電路為一理想的模型如圖五(b)所示。透過模擬得到必需的延遲為RC的函數,如圖五(c),二個參數之選取在線以上的範圍。
《圖五 (a)雙載子電晶體密勒除頻器;(b)簡化的模型;(c)所需的延遲與RC的關係圖》 |
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帶通負載之除頻器
圖五(b)之電路難以用CMOS技術實現的原因如下:
- (1)由於MOS元件的低轉導(transconductance),負載電阻的壓降必需大到足以提供必需的迴路增益;
- (2)源極隨耦器消耗部分的voltage headroom並衰減訊號;
- (3)源極隨耦器的有限頻寬限制了除頻器高速上的操作。
幸運地,上述問題可以利用LC tank當作密勒除頻器的負載而獲得解決,如(圖六)所示。
為了要使該電路正常工作,在ωin/2時的迴路增益必需至少是1。假設該混波器為一理想的乘法器,其RLC tank的轉移函數為:
其中2ζωn = (RC)-1,ωn2 =(LC)-1,我們需要:
係數1/2是由於正弦曲線積化和差而來。也就是:
於是,在正確除頻下的最小輸入電壓振幅為
如我們所預期,右式在ωin = 2ωn = 2/時可得一最小值2/β。在Δω = |ωin-2ωn|<< 2ωn,我們可以得到
既然ζ=(2Q)-1,(公式十四)根號中的分式可以簡化為(QΔω/ωn)2,產生的式子如下:
(圖七)畫出輸入敏感度對ωin的函數。舉例來說,假設我們限制輸入擺幅為4/β,可得:
隨著輸入擺幅的增加,混波器的switching quad最終會完全切換,理想狀況下轉換因子為π/2。迴路增益為(π/2)gm乘上tank的阻抗。其中,gm為混波器下方差動對的轉導。(公式十三)可修改成:
(公式十八)可修改成:
於是:
與注入-鎖住式除頻器的比較
此部分我們針對一簡化的注入-鎖住式帶通除頻器作一比較,如(圖八)[4]。由(公式二十三)可以預期圖八(a)之最大頻率範圍,必須幫圖八(b)找尋一個相似的表示法。如果後者可以正確除頻,當M3在?in下注入一電流,而電晶體M1及M2切換在?in/2的速率。這和單平衡(single-balanced)混波器行為相仿。M1及M2將輸入轉換成 ?in±?in/2,並將該結果注入tank中。如果交錯耦合對(cross-coupled pair)快速地切換且點P的電容是可忽略的情況下,轉換因子為2/π。如此一來,在?in/2時注入tank的電流峰值為(2/π)Iinj,便可修正Adler's的鎖住頻率方程式[5]:
下標?in/2強調鎖住範圍是在輸出端量測,ωn是tank的共振頻率 = 2π(?in/2),Iosc表示振盪電流(其值大約等於末端電流)。於是我們可以得到輸入端的鎖住範圍:
電路模擬顯示,以(公式二十五)用來表示鎖住範圍上限,是相當好的逼近。
《圖八 (a)帶通除頻器簡單實現電路(省略偏壓電路);(b)注入-鎖住式除頻器》 |
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為了要使二個電路在相同的輸入頻率範圍下都能正確除頻,公式二十三)必須和公式二十五相等,得式子如下:
上述結果意味圖八(b)的注入位準必須和振盪位準相當,Iinj≒Iosc,而圖八(a)的電路只需要gmR約等於≒1.8就可以提供相同的頻率範圍。換句話說,帶通除頻器將迴授端接到RF埠,可以達到較寬的頻率範圍(模擬顯示在該頻率範圍內,輸出擺幅會有幾個百分比的變動)。
我們並不希望在Vin = 0產生振盪,圖八(a)的結構具有較小的相位雜訊。的確,在已知功率消耗及輸出頻率,SpectreRF的模擬顯示該電路之相位雜訊較注入-鎖住式除頻器(Iinj≒Iosc)少4 dB。再者,圖八中二個電路架構另一項不同點在於不當操作下的輸出訊號:圖八(a)輸出訊號為零,而圖八(b)則會產生注入-推動(injection-pulled)的波形。因此,在系統層級利用變容器是較簡單偵測錯誤的方法。
電路實現
除頻器第一級
(圖九)表示第一級÷2電路。其中,負載電感L1 = L2 = 0.85 nH與點X、點Y之寄生電容和M1、M2之輸入電容產生振盪,在20 GHz及可忽略的voltage headroom消耗下,提供相當於600Ω的電阻。
《圖九 (a)第一級÷2電路;(b)圖(a)的簡化》 |
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電路中及各元件的值及尺寸必須審慎選取以提供足夠的迴路增益-才能保証正確地除頻-以及夠大的輸出擺幅才能推動下一級。假設M3-M6能快速地完全切換,忽略L3及寄生電容的效應並簡化該電路,如(圖九)(b)所示。將混波器的電壓轉換增益(=迴路增益)表示成(2/π)gm1,2Rp,其中Rp=Q L1,2ω為每一tank中等效並聯電阻。已知gm≒2π?TCGS,且迴路增益必須大於1,得式子如下:
忽略所有的寄生效應,ωin/2 ≒ 1/,如此可得:
其中?in是輸入頻率(公式二十八成立在輸入頻率的中央值,也就是說此時tank可視為一個電阻Rp)。透過該結果,我們可推論即使輸入頻率高達?T,就算Q值等於1也是可被接受的。但有以下的幾項原因,我們仍然需要較高的Q值:
- (1)點A及點B的所有電容值;即使源極/集極的接面電容可忽略,M3-M6在?T附近產生一個極點,“浪費”大約一半的M1與M2小訊號集極電流。
- (2)以幾近於弦波的訊號來驅動M3-M6是無法快速切換的,只能轉換部分由M1與M2產生的差動電流到上方的tank中。
- (3)電感性負載的寄生電容和耦合電容導致ωn < 。模擬顯示Q必需超過4.5才能正確地除頻。
總括來說,tank所需的Q是由以下幾項要件決定:三階諧波的衰減程度;理想狀況下要有足夠的迴路增益;以及當寄生效應存在時,仍然要有足夠的迴路增益-Q是最後決定本設計的重要考量。
電路中的六個電晶體都相當的大,,M1與M2汲極的總電容導致大量的小訊號電流分流到地。因此,我們利用加上電感L3以抵消該電容的效應。利用對稱結構及差動訊號的L3 = 1.6 nH具有較高的Q值(此在10~20 GHz時的估計),並在點A與點B之間產生約2 kΩ的電阻。該阻抗比起看進M3-M6的源極要大得多,因而浪費了些許的電流。由於迴授訊號送回RF埠,當LO埠輸入為零時,該電路輸出為零。和圖八(b)的注入-鎖住式振盪器不同,此電路架構並不容易產生振盪。
(圖十)描繪出三種不同CMOS除頻器的敏感度:密勒除頻器加上電子峰突(和[6]相類似)、本文提出的架構以及注入-鎖住式。
除頻器第二級
第二級÷2電路示於(圖十一)(a)。輸出端接回switching quad而非底下的差動對,使得除頻器第一級有較小的電容性負載。實際上,如果(W/L)3,4≠(W/L)5,6,該電路就像是一個注入-鎖住的振盪器。M3與M4形成交錯耦合差動對,而M5與M6以連接二極體(diode-connected)的電晶體形式呈現,雖然減小了tank的Q值但卻提高了鎖住範圍(本設計中(W/L)3,4=(W/L)5,6,所以該電路不會振盪)。
《圖十一 (a)第二級÷2電路;(b)注入-鎖定式的說明》 |
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電感L3會與抵消點A及點B的電容效應,是以提高了一定程度的鎖住範圍[7]。和單端輸入的注入-鎖住式除頻器不同[4],[7],本設計注入一20GHz的差動相位訊號到末端電流源及輸出端。模擬顯示這樣的差動注入可以提高20%的鎖住範圍。
圖九(a)及圖十一(a)中C1及C2的底板電容(bottom-plate capacitance)降低了第一級的迴路增益。這些電容是利用fringe的結構[8]可以同時達到減少寄生效應,並利用較小的面積獲得較高的電容值,採用差動對作為緩衝以驅動外接的負載。透過這二級除頻器,整體電路具有÷4的功能。正確的電路模擬在此是相當關鍵的。尤其是電感及寄生效應的模型必須要準確,以達必須的共振頻率。
實驗結果
此除頻器電路由0.18μm的CMOS製程製作。(圖十二)顯示了一個佈局照片圖,大小為0.5×0.7 mm2。此電路提供2.5 V的電壓,並以高速probe station測試。在穩態下,沒有一個電路元件的壓降超過1.8 V。
(圖十三)呈現該除頻器的輸入和輸出波形。(圖十四)描繪出在正確除頻下最小所需的輸入位準。以上的量測受到幾項限制:40GHz RF訊號產生器有限的輸出功率;經由探針的損失;以及缺乏單端-差動(single-endedoto differential)轉接器。然而,在如此受限的條件下,20GHz下假設Q值為8,可以在39.5GHz附近得到頻率範圍±1.25GHz,即使輸入位準有1.3dB的增量,仍符合公式二十三的預測。
《圖十三 輸入及輸出波形(水平刻度:50 ps/div;垂直刻度:100 mV/div,輸入波形衰減10 dB)》 |
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(圖十五)展示了10GHz的輸出頻譜。在1MHz的偏移下有-115 dBc/Hz的相位雜訊。該電路第一級消耗16.8 mW,第二級消耗14mW。
《圖十五 10GHz的輸出頻譜(水平刻度:1 MHz/div;垂直刻度:10 dB/div)》 |
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結論
本文分析密勒除頻器正確除頻的各項條件,並提出一個利用共振tank的電路架構,在輸出及內部使用Gilbert cell,大大地提升了操作頻率。並將所提出的架構與注入-鎖住式除頻器進行一詳盡的比較。利用÷4電路及上述技巧,我們將得以操作在40GHz。
(作者為台大電子工程學研究所/台大系統晶片中心研發教授 )
<參考資料:參考文獻
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