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如何设计/优化/测试多通道高速介面接收端与发射端讯号品质
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【课程简介】:
     随着5G通讯技术的普及,电子装置与系统的复杂性和资料速率不断升高,工程师在测试这些装置时面临着更多
     的挑战。当资料速率较低时,单通道测试即可满足要求。但如果资料速率较高,工程师可能会遇到各式各样的
     串扰,抖动等问题。因此,在处理不同干扰源和干扰信号应用时,多通道测试就变得十分重要。本次线上研讨
     会您将学习到从如何优化&测试高速通讯数位链路的接收机,发射机的讯号品质并达成Error-Free 的目标。
     
●【谁适合参加此次线上研讨会】
     晶片设计实体层信号系统验证、讯号品质验证工程、讯号模拟工程、系统应用、失效分析与AE/FAE等部门。
     
●活动名称:
     ●基础高速多通道数位链路Error-Free 设计概念介绍
     ●如何确保Error-Free在高速链路系统中 : 误码测试
     ●影响误码率及其相应测试设置的主要因素:
     -发射端(Transmitter)
     -通道(Channel)
     -接收端(Receiver)
     ●误码测试的应用案例
     Applications for bit error rate testing :
     -Display Port and eDisplay Port
     -DDR5
     -PCI Express
     -PAM4
     
●活动时间:
     2020年11月03日(二)上午10:30~11:45(研讨会60分钟、会后15分钟QA)
     
●主讲人:Steven Chiang 资深产品应用经理
     ●Steven Chiang 是一位高速讯号测试专家,在SerDes产品的测试与验证方面拥有超过15年的经验,如PCIe、高
     速SerDes以及MIPI的C-PHY与D-PHY。作为一名应用工程师,他接触过各种高速介面的测试场景,对于物理层的
     相关设计验证与测试挑战,已经累积出许多非常有价值的专业经验,也协助许多客户成功的开发高速介面产品
     和完成各项相关的功能测试验证。
     

【課程費用】: 此为免费课程


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